DSA8200采样示波器

为具挑战的系统设计提供信号高保真度 
当前高速电路使得信号路径和BER分析的挑战性进一步提高。由于高的TDR带宽、快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试，DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。 
DSA8200采样示波器概述 
功能:
多4个真实差分通道
高带宽（50 GHz）时域反射仪
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。
IConnect? 信号完整性
串行数据网络分析 (SDNA)
串行数据链路分析 (SDLA)
远程采样头
优点:
利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准
利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置大化接收器的眼睁时间。
通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和小化探头、电缆及测试治具的影响。


备注：
我们的优势：
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