分光配光测定装置GP series

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Otsuka大塚电子型号大全:

环形电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZS

单元电位测量系统ELSZ-2000Z

动态光散射亮度计DLS-8000series

浓厚的粒径分析仪FPAR-1000

纤维光学动态光散射亮度计FDLS-3000

红宝石自动取样的浓厚的粒径分析仪FPAR-1000AS

动态光散射亮度计DLS-6500series

粒径分子量测量系统ELSZ-2000S

光散乱光度计SLS-6500HL

高感度示差屈折计DRM-3000

可拉利电气泳动系统Agilent 7100

多信道分光器MCPD-9800

多信道分光器MCPD-6800

高感度分光放射辉度计HS-1000

反射分光膜厚计FE-3000

膜厚显示器FE-300

嵌入式膜厚显示器FE-300

膜厚检测应用多信道分光器MCPD series

显微镜光谱的厚度计OPTM series

光谱仪FE-5000/5000S

光谱干扰式晶片膜厚计SF-3

450mm晶片检查装置SF-450M

微晶片厚度检查装置SF-3000M

全光束测定系统HM/FM series

发光荧光测定用途多信道光谱仪MCPD series

分光配光测定装置GP series

高速螺栓测量系统GP-7 series

发光荧光测定用途多信道光谱仪

寿命检查装置IESNA LM-80

量子效率测试系统QE-2000/2100

单线荧光薄膜检查系统DF-1000

高灵敏度NIR量子效率测量系统QE-5000

单粒子荧光诊断系统NIMS

量子系统ELSZ-PT

高速LED光学特性监控装置LE series

滤色器光谱特性测量装置LCF series

彩色测量用多信道分光器MCPD series

小区间隙检查装置RETS series

LCD评估装置(面板模块检查)LCD series

黑色亮度的调光变化测定装置GC-1

动画特性测定装置MPRT-2000

动画解像度评估装置MR-2000

透射率、接收、外光谱测量仪MCPD series

反射率测定用途多信道分光器MCPD series

膜厚度测定系统FE-3700/5700

快速反应检测装置RE-200

相位差胶卷光学材料检查装置RETS-100

京都玉崎株式会社

香港京都玉崎集团有限公司

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