leeb221涂层测厚仪
leeb221涂层测厚仪的产品特点：
·leeb221涂层测厚仪,采用电涡流测量方法，可无损地非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。
·全中文菜单；
·两种测量方式；
·两种工作方式；
·可储存500个测量值；
·数据删除功能；
·可设置界限；
·对界限外的测量值能自动报警；
·电源欠压指示；
·手动和自动两种关机方式。
leeb221涂层测厚仪的技术参数：
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型号 |
leeb220 |
leeb221 |
leeb222 |
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测头类型 |
F1 |
N1 |
F1或N1 |
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工作原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感或涡流 |
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测量范围 |
0～1250μm |
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低限分辨率 |
0.1μm |
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示值误差 |
一点校准 |
±（3%H+1） |
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二点校准 |
±[（1～3%)H+1] |
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测试条件 |
小曲率半径 |
凸1.5mm、凹9mm |
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小面积直径 |
Φ7mm |
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基本临界厚度 |
0.5mm |
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工作环境 |
温度 |
0～40℃ |
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湿度 |
20～90% |
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电源 |
AAA型碱性电池1.5V两节 |
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外形尺寸 |
150×55.5×23mm（主机） |
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重量 |
F1/165g，N1/205g |
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标准配置 |
主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池 |
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选配 |
- |
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多种探头 |
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几款leeb200系列涂层测厚仪的区别：
leeb210：塑壳，分体，无接口，F1型探头。
leeb211：塑壳，分体，无接口，N1型探头。
leeb220：塑壳，分体，F1型探头。
leeb221：塑壳，分体，N1型探头。
leeb222：塑壳，分体，标配F1和N1探头两个探头。
leeb230：金属外壳，分体，F1型探头。
leeb231：金属外壳，分体，N1型探头。
leeb232：金属外壳，分体，标配F1或N1探头。
leeb25O：塑壳，一体机，F1探头。
leeb251：塑壳，一体机，N1探头。
leeb252：塑壳，一体机，双用探头。
leeb242：塑壳，分体，带打印机，标配F1或N1探头。
