KIF-FSPC/FS2000 干涉条纹解析装置/干涉条纹解析软件
KIF-FSPC/FS2000 干涉条纹解析装置/干涉条纹解析软件产品介绍：
与KIF 系列的干涉仪配套安装，可对平面及球面的面精度进行定量测评的干涉条纹解析装置。同时，作为对原有软件功能的追加，使用更加方便的新Windows版本的干涉条纹解析软件FS2000也闪亮登场。
高解像模式的标准配置
在标准模式（320×240像素）的基础上，加装高解像模式（640×480像素）的标准配置。可以对更加复杂的干涉条纹图形作有效分析。
像差分析软件的标准配置
将已测波面数据用Zernike多项式（4、9、16、25、36项）展开，进行像差分析（像散、彗差、球面收差等）。
干涉条纹图像通过PC画面即时显示
干涉条纹图像即时清晰地显示在PC画面上，可边看PC画面边调出干涉条纹，并可单独分离条纹图像，通过附设的彩色打印机打印。
附带相位数据间的演算功能
在已测定的相位数据间可进行加减演算。并能进行内部收差的补正、与主控数据相加减等，具有极强的高精度解析能力。
主要用途： 评价镜片、平面光学部件研磨面的面精度。
评价镜片、平面光学部件的透过波面的定量。
评价反光镜、硬盘、晶片、磁头等金属面的面精度。
规格 解析方式
相位移方式
测定条纹条件
正弦波状强度分布的干涉条纹
（不可进行多重干涉的干涉条纹解析）
横方向解像度
320×240像素（标准模式）
640×480像素（高解像模式）
再现性
PV值：λ/300以上、RMS值：λ/2000以上
（为本社测定条件，与KIF-202相组合时2δ的值。）
电脑
DOS/V机械
OS
Windows XP?
电源
AC100V±10V 50/60Hz
因测定时的设置环境不同，会发生机械性能不能充分发挥 的时候，敬请原谅！
Windows、Windows XP?是美国软件公司在美国以及其他注册的商标。
干涉条纹解析系统FS2000 解析参数设定
复数大值(四角形、圆形)的设定
外径、有效径的
合否判定规格设定(PV、RMS、各收差等)
收差除去设定
波面间的演算机能
解析结果输出
PV、RMS、动力
收差(倾斜、焦距、亚斯、彗形像差、球面收差)
Zernike系数(4、9、16、25、36项)
三维鸟瞰图、二维彩色图
断面(X·Y方向PV、RMS)
合否判定结果
条纹画像数据、波面数据、大数据、规格数据的保存/读取
主窗口印刷、条纹印刷
KIF-FSPC系统构成
FS2000 解析结果表示画面
2D、3D表示
在该画面中可以确认所有形状的数据。可用彩色的平面图及立体鸟瞰图（上视图）显示结果（相位数据），并可同时显示出干涉条纹数据、PV值、RMS 值、POWER值以及赛德尔像差。因可对各数据设定规格值，所以可以对测定结果进行合格与否的判断。例如可以把PV值转换为λ、μm、及Fringe（条纹数），来通过数值而不是以目视检查来判断磁盘基板的面精度。
断面表示
通过在平面图数据上移动十字光标，可显示在任意位置上正交的XY轴上的相位数据断面图。此时如果用鼠标拖动十字光标，则可同步确认断面形状的变化。因为可以同时用彩色平面图显示全体形状以及用XY断面图显示断面形状，因而可以通过视觉把握形状的变化，并进行判断。
收差表示
将相位数据用Zernike多项式（4.9.16.25.36项）展开，并显示各项系数及赛德尔像差（像散、彗差、球差）。另外，通过选择，也可切换为通过波面测定和评价时使用的RMS表示。因可对赛德尔像差（像散、彗差、球面像差）的各数据设定规格值，所以可以对测定结果进行合格与否的判断。例如可以通过与制造DVD的拾音光头时不可缺少的透过波面测定用干涉仪（KIF-201T1-55）一起配合使用，可在更短时间内更加容易地完成测定评价。
附属品
线性卡尺
线性卡尺300mm■ 线性卡尺450mm■
受台、测定台
透过测定台（平面用）■■■
透过测定5轴受台（球面用）有效径Φ50■■ 有效径Φ102■
参照镜
口径
Φ60
Φ102
Φ152
干涉仪类型
KIF-202L
KIF-202T1
KIF-202F
KIF-402
KIF-402
球 面 用
F0.6*
■
■
■
F0.7
■
■
■
F0.8*
■
F1.0
■
■
F1.5
■
■
■
F2.0
■
■
F3.0
■
■
■
F6.0
■
■
■
平面用
RF(λ/20)
■
■
■
■
■
RF(λ/30)
■
■
■
■
*受注生产品
参照面精度Φ60球面λ/20、Φ120球面λ/20
解析装置
条纹扫描方式/KIF-FSPC■■■■
防振台
摄影式打印机
摄影式打印机■■■■
孔径转换器 Φ60~Φ15■■■
Φ60~Φ102■■
Φ102~Φ60■
Φ102~Φ152■
减衰过滤器AF
有效径Φ60■■■
有效径Φ102■■■
有效径Φ152■
透过测定用反射镜
球面 λ/20■
平面 λ/20有效径Φ80■■
机架
机架■■■■
架台、TV显示器、摄影式打印机为另外销售。
机种对应
■KIF-202L
■KIF-202F
■KIF-202T1
■KIF-402
反射测定时的平面图
东莞市塘厦鑫磊仪器厂
联系人：陈先生
电话：
传真：
酸度计（PH计）PHS-3G
便携式酸度计（PH计）PHBJ-260
便携式酸度计（PH计）PHB-4
酸度计（PH计）PHS-3C
酸度计（PH计）PHSJ-3F
酸度计（PH计）PHSJ－4A
酸度计（pH计）PHSJ-5
酸度计（PH计）PHS-3E
酸度计（PH计）PHS-2F
酸度计PHS-25
可见分光光度计7230G
红外水份测定仪SH10A
卤素水份测定仪LHS16-A
水份测定仪YLS16A
电子天平YP502N
电子天平YP1002N
电子天平YP601N
电子天平YP1201N
电子天平YP2001N
电子天平YP3001N
电子天平YP6001N
电子天平JA5003B
电子天平JA2603B
电子天平FA1204B
电子天平FA1604B
电子天平FA2204B
自动旋光仪SGW-1
自动旋光仪SGW-2
自动旋光仪WZZ-1
自动数显旋光仪WZZ－2B
自动旋光仪WZZ-3
自动旋光糖量仪WZZ-2SS
数字式自动旋光仪WZZ-2S
目视旋光仪WXG-4
滴点法软化点测定仪WQD－1A
数字熔点仪WRS—2A
显微熔点仪SGW X-4A
显微熔点仪SGW X-4B
熔点仪WRR
数字熔点仪WRS-1B
数字熔点仪WRS－2
显微热分析仪WRX-1S
SGW X-4显微熔点仪（数显）
V棱镜折射仪WYV
自动阿贝折射仪WYA-ZT
自动阿贝折射仪WYA-Z
双目阿贝折射仪WYA-2W
数显阿贝折射仪WYA-2S
自动阿贝折射仪WYA-Z
分光测色仪WSF
分光测色仪WSF-J
罗维朋比色计WSL-2
WSC-S测色色差计
透光率/雾度计WGT－S
数显光电雾度计WGW
数显浊度计WGZ-2000
数显白度计WSB-L
数显浊度仪WGZ－200
便携式电导率仪DDBJ-350
便携式电导率仪DDB-303A
电导率仪DDS-307A
电导率仪DDSJ-308A
电导率仪DDSJ-318
电导率仪DDS-307
便携式溶解氧分析仪JPB-607A
便携式溶解氧分析仪JPBJ-608
便携式溶解氧分析仪JPBJ-608
便携式多参数分析仪DZB-718
多参数水质分析仪DZS-706
多参数水质分析仪DZS-707
多参数水质分析仪DZS-708
多参数水质分析仪DZS-706-B
