X荧光有害元素分析仪

发布时间:2018-03-19

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产品说明、技术参数及配置

针对EDX 1800B在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX 1800E。应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。

应用领域

RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业;银
行,首饰销售和检测机构;电镀行业
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
检测75种元素·1ppm检出限·重复性0.05%·稳定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用,X射线的辐射水平与普通大气环境状态下相等
性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
仪器上盖的测试自锁和高压电源紧急锁功能,带给您全方位防护

技术参数
元素分析范围:硫(S)~ 铀(U)
分析检出限:1ppm
分析含量:ppm ~ 99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围:15℃ ~ 30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:144±5eV
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg
仪器配置
移动样品平台 
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

XRF分析仪工作原理

若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同,所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。

下述可描述X-射线荧光的特性:若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及辐射,此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于辐射能量约为11%,而辐射能量较大约20%,所以以能量的观点是很容易区分的。

原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。

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