回收HIOKI日置3504-60 3504-50测试仪

回收HIOKI日置3504-60 3504-50测试仪
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东莞市金泰电子仪器有限公司
：HIOKI日置
型号：3504-60 3504-50 测试仪 
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
备注： 
长期/回收、供应、二手、数字存储示波器、数字万用表、网络分析仪、频谱分析仪、无线综合测试仪、信号发生器、无线综合测试仪 、数字功率计、PCI-GPIB卡 等。