梅特勒AL204-IC内校分析天平

发布时间:2016-04-04
梅特勒AL204-IC内校分析天平
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详细说明  

一、梅特勒AL204-IC内校电子分析天平特点
内置砝码自动校准,操作简便、清晰的液晶显示,提高型天平体现出的。
采用具有良好耐腐蚀、抗冲击性能的ABS工程塑料,确保天平结构的轻便、坚固 
清晰的显示屏和键盘按键设计,方便用户使用 
内置砝码自动校准,确保称量结果的准确性 
内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备 
标配机架塑料保护罩(In-Use cover),避免散落样品的腐蚀 
具有简单称量、百分比称量、计件称量、动态称量、加减称量等内置应用程序

二、梅特勒AL204-IC内校电子分析天平技术参数
可读性:0.1mg
大称量值:220g
重复性(s): 0.1mg
线性: ±0.2mg
外部校准砝码(选件) :100g
秤盘尺寸(mm): Φ90
防风罩有效高度(mm): 200
外形尺寸(W×D×H)(mm): 238×335×364

上海台衡仪器仪表有限公司 

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