三维光学面扫描系统快速逆向

发布时间:2018-04-10

苏州临点三维科技有限公司是一家提供研发生产白光、激光检测系统和设备的科技型企业,是国内相关技术领域研究较早、应用领域广泛、技术和服务能力排名靠前的科技型公司。公司位于苏州工业园区,依托西安交通大学模具与成形研究所、西安交通大学苏州研究,长期潜心于三维光学测量的基础及应用研究,拥有完全独立的知识产权,关键技术达到国际水平,制定了三维光学扫描系统测量领域的个标准,项目技术获得技术发明二等奖一项,陕西省科学技术奖一项等。

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XTOM——三维光学面扫描系统


XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用国际的外差式多频相移三维光学测量技术,测量精度、测量速度等性能都达到国际水平,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高,抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。



三维光学面扫描系统应用范围

  • 逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。

  • 产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。

  • 其他应用:文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。




功能特色

  • 扫描预览,实时跟踪标志点

  • 针对不同幅面的板,灵活的相机

  • 扫描结果三维显示,灵活的三维显示控制

  • 坐标转换功能

  • 具备光学探针功能

  • 321坐标转换功能

  • 具备点距测量功能

  • 具备多种后处理功能,包括点云匹配、重叠面自动融合等

  • 具备多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等

  • 具备多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等






规格型号





产品型号

TOPSCAN-TC

单目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工业型

相机像素

1×000 2×000 4×000 2×000
扫描范围

128×96mm

400×300mm

32×24mm

64×48mm

128×96mm

128×96mm

400×300mm

128×96mm

400×300mm

800×600mm

测量精度 0.02 ~0.04mm 0.008~0.015mm 0.03~0.05mm 0.015~0.03mm
采样点距 0.15 mm~0.3mm 0.08~0.15mm 0.12~0.25mm 0.10~0.25mm
扫描方式 非接触式扫描
输出格式 ASC,STL、PLY
扫描时间 3~5S
拼接方式 标志点全自动拼接,手动选点拼接
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