SIMI-3198测试仪专门用于各种单、多运放和比较器的参数测量。
参数测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU按人为设定完成，不需任何人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。不必使用测试盒、不必人工接线，即可对数千种线性集成电路进行测试。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。
SIMI-3198基本使用方法是：先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学”，即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试，即对您所关心的数据进行自动测量，并与“学”数据进行比较，显示出优劣结果。操作十分简单，容易掌握；尤其是大批量筛选更为简单，优于样板的就通过，不必一一读取测量结果，并逐一查看其是否符合要求。若想看测量结果，也可用按键逐一翻看。（或用串行口与PC机或打印机相连接，显示或打印出测量结果）应该说它即可满足生产筛选的需要，也可满足科研开发使用。
SIMI-3198 测试参数：
测试参数 符号 单位 误差
1． 失调电压 Vio mV <5％
2． 失调电流 Iio nA <5％
3． 偏置电流 Iib nA <5％
4． 静态功耗 Pd mW <5％
5． 开环增益 Avd db <5％
6． 共模抑制比 Kcmr db <5％
7． 输入电阻 Rid KΩ <10％
8． 输出电阻 Ros Ω <10％
9． 增益带宽积 Gbw KH <5％
10． 电源电压抑制比 Ksvr db <5％
11． 输出电压峰-峰值 Vopp V <5％
