记录过程校准器回路测试

发布时间:2015-03-31

Fluke 754记录过程校准器回路测试 (Loop Test)

Fluke 754记录过程校准器回路测试 (Loop Test) 功能会向变送器发送一条命令,将变送器的输出块设置为值。使用此功能可以检查输出块的校准,或验证外部回路读取设备上的指示是否正确。要执行回路测试 (Loop Test),请执行以下操作:
1. 在“活动设备 (Active Device)”屏幕上,按维护 (Service) 功能键,然后按回路测试 (Loop Test)。请参见图 14。

Fluke 754记录过程校准器
图 14. “回路测试 (Loop Test)”屏幕
2. 按某个功能键可以向变送器发送命令,将模拟输出设置为相关值,或使用数字按钮手动记录值。 变送器可识别屏幕中间选定的 PVAO(输出阶段的数字表示法)。产品将在屏幕顶部显示测量值,以便您可以使用回路测试作为检查变送器输出块校准的快速程序。

Fluke 754记录过程校准器输出微调 (Output Trim)
输出微调 (Output Trim) 可以调整变送器的输出块。可以在通用变送器和支持的变送器上执行输出微调 (Output Trim)。 要执行输出微调 (Output Trim),请执行以下操作:
1. 在“活动设备 (Active Device)”屏幕上按维护 (Service) 功能键,然后按输出微调 (Output Trim)。请参见图 15。
2. 按提取 (Fetch),可以将使用本产品测量的 mA 值输入对话框中。
3. 按发送 (Send),可以微调模拟输出下限。
4. 要微调模拟输出上限,请再次执行步骤 2 和步骤 3。根据显示屏上的提示进行操作。

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