超声波测厚仪使用单晶探头应用

发布时间:2014-08-25

olympus 45MG超声波测厚仪使用单晶探头应用

olympus 45MG超声波测厚仪对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量
使用单晶探头

用户使用单晶探头可以测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将olympus 45MG超声波测厚仪与单晶探头配合使用,则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头时,单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米(0.0001英寸)的测量值。
高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
测量厚度、声速或渡越时间。
自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作。
olympus 45MG超声波测厚仪
 

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