测厚仪单晶探头的应用

olympus 45MG测厚仪单晶探头的应用

olympus 45MG测厚仪材料声速测量
45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其它属性密切相关的应用中，这个标准功能非常有用。典型的应用包括监控铸造金属的球化程度，以及监控复合材料/玻璃纤维的密度变化。

olympus 45MG测厚仪 缩减率测量
差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的薄钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。

olympus 45MG测厚仪应用设置调用
应用设置调用功能简化了厚度测量操作。用户在选择了任何一个存储探头后，45MG测厚仪即会调出所有与这个内置探头相关的参数。
olympus 45MG测厚仪存储的标准设置
45MG仪器带有21个标准单晶探头设置，可用于常用的测量操作。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。
olympus 45MG测厚仪存储的自定义设置
45MG还可存储多35个自定义单晶探头的设置，其中还包括校准信息。用户可以连接适当的探头，并调用设置文件，然后仪器便可进行厚度测量，甚至还可完成复杂的测厚应用。