激光测厚系统

JD-2003激光测厚系统

JD-2003激光测厚系统在工业生产中的非接触、在线测量中，对于提高产品的质量、生产效率及安全保障等方面均发挥着非常重要的作用。JD-2003激光测厚系统可以完成许多用接触式测量手段无法完成的检测任务。经过多年的科技攻关研发出各种测量系统。
JD-2003激光测厚系统在膜厚测量上的应用
JD-2003激光测厚系统的优点：精度高，不受被测物的材料、质地、型状、反射率的限制。从白色到黑色，从金属到陶瓷、塑料都可以测量。
激光测厚仪，

JD-2003激光测厚系统技术参数

 

测量范围	< 3mm
分辨率	0.001mm
精度	±0.003mm
光源波长	0.65mm
光针直径	~200mm
测量速度（曝光时间）	0.0001秒
工作温度	0~40℃
激光防护等级	3B
电源电压	220v