X荧光光谱仪

 欧盟限制使用有害物质条例(RoHS)将在:namespace prefix = st1 ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:smarttags" />2006年7月1日正式实施。RoHS条例严格控制电子与电气产品中的Pb、Hg、Cd、Cr6+、和Br(PBB 和PBDE)含量。为了确保产品符合RoHS条例，生产商和供货商，
    X-3000A能量色散X射线荧光光谱仪，采用低功率小型X光管为激发源、电制冷硅半导体探测器为探测单元，是公司为生产制造企业应对WEEE指令和 ROHS指令，新近推出的X射线荧光光谱仪。同时我公司专门研发针对欧盟指令的应用软件，对铅、镉等有害金属进行ppm级的分析。
    X荧光光谱仪(包括X荧光能谱仪和X荧光光谱仪)针对这些分析要求拥有其他分析仪器不可比拟的优点:
 制样简单样品经过简单的制样甚至无需制样即可直接测量. :namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />

1、所有元素可以同时测量并且短短几分钟即可完成分析因此可以应付大批量待测样品.

2、检出限低完全可以满足WEEE和ROHS指令.

3、无损分析.

4、没有人为误差在分析程序设立后谁操作都得到一样的结果.

5、操作简单可以单键完成操作.

X-3000A型特性：

1、自动谱线识别，让您方便地了解样品的组成

2、丰富的定量分析软件，包括经验系数法、理论α 系数法（NBS-GSC法）、基本参数法等

3、测量元素范围宽，从铝（13）至铀（92）都可测量，特殊情况下甚至可以测出钠（11）与氟（9）

4、可测含量范围宽，从低μg/g （即0.000X%或称PPM）至高

5、测量速度快，通常为几十秒到几分钟

6、多元素同时定性定量

7、基於 WINDOWS95/98/2000/XP的工作软件，使您能简单、方便地完成各项复杂的分析任务

8、高分辨率：由于采用新的SiPIN探测器，仪器的分辨率优于250eV

使用方便、安全：公司秉承一贯为用户着想的理念，充分考虑到用户使用中的便捷与安全，使仪器对射线的防护达到并过安全标准

丰富的计算方法：新设计的软件，运行在WINDOWS95/98/2000/XP等操作系统下，可以使用多种计算方法对样品进行分析