3504-60/3504-50/3504-40

发布时间:2016-07-14

3504-60现货供应,3504-60报价,3504-60日本日置LCR测试仪


生产线适合的产品

C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等



· 高速测量2ms

· 能根据C D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断

· 对应测试线,比较器功能/触发输出功能

· 3504-60/-50BIN的分选接口进行被测物体的测试

· 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试

· 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

联系人:纪夏
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              http://www.15817.cn

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件



基本参数


测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ

测量范围

C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000

基本精度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度= 基本精度× B× C× D× E, BE为各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60)500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: 170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: 70μF 量程 (测量频率 1kHz), 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻

CV测量范围以外的开路端子电压模式时)

显示

发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

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