热电制冷综合实验系统 型号:JDRL-1
实验内容:
1.热电制冷器工作特性研究;
2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性;
3.塞贝克效应;
4.半导体热敏电阻特性的研究;
5.金属电阻温度系数的测定;
6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用;
7.金属材料温差电势的研究;
8.电阻温度计与非平衡直流电桥.
技术指标:
实验仪主要由控温仪、半导体致冷堆组件及附件组成;
高精度数字智能化恒温控制,温度控制范围:
加热范围:室温~120℃
致冷范围:-10℃~室温
控温精度:0.1℃
恒温稳定度:±0.1℃
数字温度传感器:-50~125℃
测温精度±0.1℃,数显
计 时 器:六位数显;
计时精度:0.1S
电流测量范围:0~2.400A
测量精度:1mA
电压测量范围:0~24.000V
测量精度:1mV
直流电功测量范围:99999.9J,六位LED数码显示;
数字恒流源:0~1.5A
数字恒流源:0~1000uA