JDLW-5温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪

发布时间:2016-07-20

温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪 型号:JDLW-5

实验项目:

1.集成温度传感器温度特性的研究;

2.金属材料温差电势的研究;

3.金属电阻温度系数的测量;

4.热敏电阻的温度特性的研究;

5.数字温度计的设计(设计性实验);

6.半导体致冷堆的性能。

技术指标:

温度控制系统:

加热范围:室温~120

致冷范围:-10℃~15

加热井装置

致冷井装置

控温精度:±0.1℃;

北京中世盛达科技有限公司
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