Gold3000系列测金仪型贵金属行业解决方案 质检局发布的标准GB/T18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》中明确指出可使用X荧光来进行贵金属含量的无损检测方法。 目前在贵金属制造行业已经形成大规模使用X荧光光谱仪（XRF）来测试贵金属含量。 XRF对贵金属检测的优势 标准：产品符合相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书； 快速：对样品无需前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测； ：ppm级度，可靠的检测数据； 无损：测试前后，样品无任何形式的变化； 直观：实时谱图，可直观显示贵金属或有害元素含量； 简易：操作简易，无需测试人员，无需严格的测试条件； 安全：三重保护装置，确保安全无误； 经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用； 可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提高效率。 XRF原理图 饰品中有害元素指令的筛选性分析方法 国标GB/T28021中提出了针对饰品有害元素的测定采用原子吸收分光光度计(简称AAS)和电感耦合等离子体发射光谱仪(简称ICP)测试，并提供一个可以应用于XRF的测试方案。国标要求测试物品有多种产品，此类产品与人体皮肤直接接触。其代表性的物品有五大类。1：耳环。2：项链、手镯、手链、脚链、戒指。3：手表表壳、表链、表扣。4：按扣、搭扣、铆钉、拉链和金属标牌。5：珠宝玉石等。 从上述五大类样品的可以看出其中类到第四类都是材质都为金属材质，可以是贵金属系列也可以是钢系列或镀层系列。第五类可归于非金属系列。 按国标GB28480中针对饰品中有害元素含量应小于或等于下表中相应元素的大限量要求。 元素 砷（AS） 铬（Cr六价） 汞（Hg） 铅（Pb） 镉（Cd） 大限量（ppm） 1000 1000 1000 100 100 而对于易被儿童吞食的饰品或部件，有害元素的含量应符合上表要求，其溶出量还应小于或等于下表中相应元素的大限量要求。 元素 锑（Sb） 砷（As） 钡（Ba） 镉（Cd） 铬（Cr） 铅（Pb） 汞（Hg） 硒（Se） 大量 60 25 1000 75 60 90 60 500 按国标GB/T28020饰品中有害元素的含量可以采用XRF方法进行检测。经过X荧光光谱仪的初检后,我们可以把合格产品和不合格产品（即含量低于或高于30%大限量值的产品）区分开来，但是X荧光有一定的应用范围，它无法测试元素价态，故六价铬中我们测试的是铬含量，如果铬含量不标，则六价铬的量也不标，如果铬含量经过XRF确定标后，可以通过紫外分光光度计进行六价铬的定量测试。而经过XRF筛选得出来的一些怀疑产品（即含量在大限量上下波动，无法进行确定其是否合格和不合格的产品）则必须通过有损测试的光谱仪器ICP和AAS分析进行仲裁。 另外XRF由于只是测试元素的含量，而无法进行溶出量的检测，我们可以通过XRF测试元素量是否过了溶出量大限量，如果过溶出量大限量，则必须通过其他光谱分析检测设备（如ICP、AAS）来确定元素的溶出量是否过了大限量，所以如果要全方位的解决饰品中有害元素检测解决方案，单只靠XRF是无法全部做到的，还要进行其它分析测试，下图表示XRF检测饰品有害元素的筛选性初检分析方法： 一、XRF无损检测仪器 Gold3000系列测金仪型 精密X荧光贵金属检测仪 Gold3000系列测金仪型采用新的半导体探测器，远胜于正比计数探测器；准确无误地分析黄金，铂金和K金饰品中金/银/铂/钯/铜/锌/镍的含量,测试结果完全符合国标GB/T18043要求。 性能特点 长效稳定X光管 半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷 采用天瑞仪器产品——信噪比增强器（SNE），大幅度提高光谱仪测量的稳定性和度 内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品 数字脉冲处理器，数据处理快速准确 放大电路、高低压电源 单样品腔，手动开关机盖，操作安全、方便 三重安全保护模式 多变量非线性回归程序 相互独立的基体效应校正模型 特别开发软件，操作界面十分友好 技术参数 元素分析范围：金、银、铜、锌、镍等 测量对象状态：粉末、固体、液体 元素分析：可同时分析24种金属元素 精密度：0.05%(96%以上) 能量分辨率：149±5eV 测量时间：60～200秒 管压：5～50kV 管流：50～1000μA 环境温度：15℃～30℃ 环境湿度：≤70% 重量：30kg 仪器配置 Si-Pin 探测器 高压 5kV～50kV 光管 50μA～1000μA 信噪比增强器 多道脉冲幅度分析器 单样品腔 实例检测
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