X-3000是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方, 正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格:
1 激发源:本机采用低功率 X 射线管(Mo靶),高电压可达50KV,大电流1mA
2.高压电源:大50W,50KV,1mA
3.探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(对MnKa线,分辨率优于230KeV)
4.多道分析器:2048道
5.软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法, 理论a系数法和基本参数法。 定性分析包括: KL线标记, 谱图比较和光标寻峰等 。 客户可进行二次开发 ,自行开发任意多个分析方法。
6.电源:交流220V 50Hz
7.体积:520mm x 600mm x 270mm
8.重量:约 42kg (主机)
整机技术性能:
1.测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量
2.可测量含量范围,从ppm至
3.测量速度快,通常为几十秒到几分钟
4.多元素同时定性定量
5.蜂位漂移:八小时小于0.1%
进口探测器的性能指标
1.探测器类型:电制冷Si-PIN
2.探测面积:2.4x2.8mm(7mm2)
3.硅活化区厚度:300um
4.能量分辨率: 对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为220Ev
5.探测器窗口:铍窗,25um厚
进口高压电源规格:
1.电压和电流从零至满量程连续可调,大50KV,1mA.
2.电压调整率:
负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %,
线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为
满量程的0.01%
3.电流调整率:
负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%
线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%
4. 稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不0.05%
5.温度系数:温度变化一度,电压变化不过0.01%