1．工作原理：ICT33c+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是重要，根本，能说明问题的参数。2．系统主要构成：（1）CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。（2）程序存储器：128KEPROM。（3）RAM缓冲区：128K静态RAM。（4）显示器：8位液晶显示器。（5）操作键盘：20位轻触式按键键盘。（6）输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。（7）机箱：全塑结构机箱。3．主要参数：（1）电源电压：AC220V±15%，50HZ。（2）整机功耗：15VA。（3）测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。（4）编程电压：12.5V，21V。（5）大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。（6）型号输入位数：3——6位。（7）适用温度：0——40℃。（8）测试规范：输入短路测试；输出短路测试；功能测试。（9）输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。（10）输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。（11）输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。（12）输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。4.功能综述（1）器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。（2）器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。（3）器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。（4）器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。（5）内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。（6）微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。（7）ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。（8）ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。5．适用范围ICT33C+具有以下主要用途：（1）维修各类电子产品，判断其集成电路故障。（2）破译被抹去型号集成电路的真实型号。（3）烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。（4）开发各类智能电子产品，调试程序。（5）检验新购器件的质量。6．测试容量ICT33C+可测器件包含以下各大系列：（1）TTL74、54系列。（2）TTL75、55系列。（3）CMOS40、45、14系列。数码管系列0.5吋共阳[001]、共阴[002]；0.3吋共阳[003]、共阴[004]；0.7吋共阳[005]、共阴[006]。常用RAM系列 2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128EEPROM系列2816 2817 2864 28256 28040 29101 28010 24C0124C02 24C04 24C08 24C16 24C32 24C64 24C128 24C25624C512 93C46 93C56 793C66 29256 29010EPROM系列2716（仅读）2732（仅读） 2764 27128 27256 27512 27010微机外围电路系列8155 8156 8255 8253 8259 8212 82828283 8216 8816 8243 8226 8205 82868287 6820 6821 6880 6888 6887 68896810 6520 8254 8251 8279 8708 68408718 8728 Z8OCTC(8O2)常用单片机系列8031 8032 8051 8052 8751 8752 89C1051 89C2051 89C51 89C52其他系列20022003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 263318311908 339 192 293 393 555 556 32422100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 88318832 3446 MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160)DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) LM358TIL308 MC902(324) 8T26(826) AD7506运算放大器系列（由于运放型号较复杂，仅列出一小部分）a) 单运放（输入7001）：AD504，AD518，AD542，AD544，AD547，AD620，AM427，AM430，AM453，CA3080，CA3094，CA3100，CA3140，CA3160，CA3193，CA3420，CA3493，CA6741，CA741，CA748，CLC411，CLC430，CLC436，HA5100，HA5105，HA5135，INA117，LF155/255/355，LF411，LF351，LF441，LM4250，LM6，LM6，LM6，LM6，LM6171/6181，LM709，LM7121，LM7131，LM7171，LM725，LT1012，LT1055，MA325，MA327，MA332/333/337/342/344，MA400，MC1748，MC3476，NE530/531/538，NE5534，OP06/07/15/，OPA100，TL061，TL066，TL070/071/080/081/091，TL321，UA714，UA741，UA771，UPC151。b) 双运放（输入7002）：CA3240，CA3260，HA17904，IR3F02，LF353，LF358，LF412，LF442，LM392，LM6172，LM6182，MA336，MA345，MC3458，MC4558，NE532，NE5512，NE5532，NE5535，NJM2043，NJM2068，NJM2904，NJM4560，NJM4562，TL062，TL072，TL082，TL092，TL322，UA772，UA789，UA747，LM2904，LM4558。c) 四运放（输入7004）：HA17902，LF147/347/444，MC3403，MC3405，MC4741，NJM2058，NJM2060，OPA404，TL064，TL074，TL084，TL094，TL136，XR4212，UA774，LM324，LM2902。三端稳压器系列7805，7806，7808，7809，7810，7812，7815，7818，7820，7824，7905，7906，7908，7909，7910，7912，7915，7918，7920，7924，317，337。
JET-300在线测试机（IN CIRCUIT TESTER）是经由量测电路板上所有零件，包括电阻、电容、电感、二极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等，检测出电路板产品的各种缺点诸如：线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等，并明确地指出缺点的所在位置，帮助使用者确保产品的品质，并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器（REED RELAY），是当今测试涵盖率高，测试稳定，使用方便，提供资料齐全的在线测试机。
ICT4040XP/4880XP/8080XP电路板故障检测仪keqi[ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。产品特点：◆的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好◆友好简单的中文操作界面，不经训练，任何人均可成为维修◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较◆与进口同类仪器比较，更优，操作更方便◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试◆本功能亦可通过学记录，比较分析来测试工作原理：全功能ASA+ICT测试器ASA（Analong signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗性图并在CRT上显示、且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。ICT（In circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试集成电路在线功能测试集成电路在线状态测试本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。1、快速测试：直接显示测试结果，迅速确定可疑IC2、分析测试：显示全部测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。集成电路在线状态测试通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。1、状态学：在线学无故障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中2、状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏3、状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。集成电路离线功能测试离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片IC逻辑图查询可查阅逻辑电路的逻辑功能图，管脚图及部分参数。V/I曲线测试通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC1、学：在线学无故障板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中2、曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻抗曲线进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大网络提取测试使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式：1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式）3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式）2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式）4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式）开发编译TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改。3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分c）循环执行 d）单步运行
YBD-868IC测试仪特性:自检功能器件型号判别可测量过2000种器件可测试54/74系列TTL可测试4000和4500系列CMOS大可测40脚的IC性能参数控制键16键轻触式键盘，带声音提示。显示屏6位LED显示测试插座40脚ZIF插座IC资料库过2000种1.TTL54系列2.TTL55系列3.TTL74系列4.TTL75系列5.CMOS14系列6.CMOS40系列7.CMOS45系列8.光耦合系列9.LED显示系列10.RAM系列11.SCM系列12.CPU周边系列功耗12VA电源220V±10%，50Hz尺寸292 X 235 X 75mm重量3.5kg
