光谱发射率是衡量热辐射体辐射本领的重要依据，是重要的热物理参数，研究和测量材料发射率对于揭示材料的热辐射特性、提高辐射加热效率、寻找节能新途径都有重要的现实意义。材料表面发射率与材料组分和结构、表面温度、表面粗糙度等许多因素有关。准确测量物体的发射率对于了解物体的热辐射能力有着重要的意义。
材料发射率特性不仅在石油化工、钢铁冶金、核能技术、新材料开发、太阳能利用、辐射测温、遥感、军事伪装等高新技术领域也有重要的应用，起着关键作用。
准确测量材料的发射率，具有明显的科学意义和重要的工程应用价值，是技术创新、开发和科学研究的基础。发射率的测量在现代科学、技术、工业生产中愈来愈重要。
在辐射测温方面，一旦辐射测温模型确定了下来，物体发射率必须是一个已知的物理量，这样才会获得真温。当今在测量真温时应用的大多数辐射测温仪器，如红外辐射稳定剂、热像仪等，需要将物体发射率输入测温仪器的，通常，这些数据是通过查阅手册获得的。但是，这些数据有其局限性，因为通常物体发射率是温度、角度、粗糙度、表面状况等参数的函数。所以，使用便携仪器对材料的发射率进行测量，甚至实时的测量，对辐射测温的准确度至关重要。
ET10和ET100便携式红外光谱发射计符合NIST标准，是替代DB100的优机型，可以准确测量材料的发射率，使用方便、测量快速。
