从静电损坏机理可知，电子元器件的静电损坏分为两种情况；
一种情况就是完全损坏；
另一种情况就是电老化或“软击穿”。
若元器件性能不好或损坏，往往认为是制造缺陷或一般使用器件操作不当所致，解决的办法就是采用元器件备份的被动办法，而没有考虑从静电损坏上去找原因。因此，对静电损坏机理和静电损坏对智能仪表危害进一步认识，是非常重要和必要的。
完全损坏的元器件很容易判断出来，在科研或生产中会立即予以报废，虽然会增加生产成本，但不会对智能仪表的性能造成潜在的危害。电老化的元器件在一般情况下是发现不了的，只有通过光用测试仪大量反复地测试其指标，才能判断出来。虽然在平时的科研或生产中是不现实的，也是不可能的。因此，这类元器件也会被视为合格品用于智能仪表，从而造成智能仪表故障定位的难度和维修成本大大增加。
联系人：顾莹先生
手机Mobil：
电话TEL：
传真FAX：
工作QQ: 1074756899
