KERN实验室电子天平计件功能

发布时间:2014-11-21

    天平的种类很多,比如机械式、电子式、手动式、半自动式、全自动式等等,如今我们使用的一般都是电子式分析天平,相比机械式或其他分析天平具有更高的精度和灵敏度。分析电子天平内部一般都配备了高精度称重传感器,像德国科恩的ABT系列的分析天平都配目前国际上的单体传感器。主要是利用电磁力平衡原理实现称量,这点有别于机械式分析天平的杠杆原理。      

   经常使用KERN实验室电子天平的客户都知道:PCB系列的精密天平不仅具有去皮、校准等普通称重功能,而且还可以实现计件功能。     

   那么这些功能是如何实现的呢?所谓的计件功能就是先测量出单个物体的重量,再放上多个相同重量的物体,此时电子天平就可以算出物体的数量,从而实现计件功能。从这点我们可以看出这种电子天平具有计算器的功能,已不仅仅是简单的将称重数据输出,而是可以将这些数据进行运算后再输出。      

   利用KERN实验室天平的计件功能可以快速的得出一堆物件里的单体个数。例如某仓库新进来一批相同零件,大概数量是五千只。要知道具体的零件个数,如果用人工去数的话,将要花去大量的时间,而且差错率高。如果利用电子天平的计数功能则事倍功半。我们取10个零件作为样品放于天平上,调出天平的计数功能,此时天平显示“10”表示当前的零件个数是10,拿走样品天平显示“0”,然后放上一包要计数的零件,此时天平的显示值即为该包零件的个数,方便简单而且准确。      

   用电子天平计件要求物体的个体质量差异不能太大,单个质量大于天平分度值的10倍以上。如果要计数物体比天平分度直小,则可以取10个样品的整数倍作为计数样品。如2倍、5倍、10倍等等,之取样数越多,计件的准确度就越高。终天平的显示个数乘以倍数则为该批被测物的件数。


 

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