瑞士tesa二次元测高仪tesa micro-hite plus M 600

发布时间:2018-01-24
TESA MICRO-HITE plus M 测高仪测量功能更强大,操作更为直观和轻松,革命性的旋转控制按钮将手动测量的速度和自动测量的精度结合。
基于其坚固的的设计,使得测高仪更适合于车间和检测实验室。可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。
- 可以记录孔在两个坐标方向的尺寸,并且可以以极坐标或直角坐标方式输出数据。
- 在我们的车间通过TESA系统对本身机械性能的调整,确保了仪器能通过指示表快速、可靠的检测垂直度。
- plus M 控制面板加TESA IG-13 数字测头可以测量直线度、平行度。
继承了TESA MICRO-HITE 的模块化特色。在下方接近底座位置安装了独有旋转控制按钮,此系统配有气垫装置可以使高度规快速移动然后进行有效测量,简单的旋转按钮可以使测针快速移动接近被测元素,然后慢速进行向上、向下或孔的测量。
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