光纤温度传感器头端部由Cr3+离子掺杂，实现光激励时的荧光发射。掺杂部分光纤长度为8～10 mm。端部光纤的外表面同时镀覆黑体腔，用于辐射测温。(这时，光纤黑体腔长度与直径之比大于10，可以满足黑体腔表观辐射率恒定的要求)。值得注意的是，避免或减少荧光发射部分与热辐射部分的相互干扰，对保证整个系统的性能十分重要。
经过分析，可以发现这种干扰主要表现为
1) 荧光信号中辐射背景信号对荧光寿命检测精度的影响。
2) 光纤表面镀覆对荧光强度的影响。
3) 光纤内Cr3+离子掺杂对黑体腔热辐射信号的影响。
光纤温度传感器类别
分布式光纤温度传感器
分布式光纤温度传感器，通常用在检测空间温度分布的系统，其原理早于1981年提出，后随着科学家的实验研究，终研制出了此项技术。这种传感器原理发展是基于三种传感器的研究，分别是瑞利散射、布里渊散射、喇曼散射。在瑞利散射（OTDR）和布里渊散射（OTDR）的研究已取得了很大的进展，因此未来的传感器研究热点，将放在对基于喇曼散射（OTDR）的新分布式光纤传感器的研究上。
近，土耳其Gunes Yilmaz开发出了一种分布式光纤温度传感器，此传感器的温度分辨率是1℃，空间分辨率是1。23m。在我国也有很多大学展开了对分布式光纤温度传感器的研究，例如，计量大学1997年发明出煤矿温度检测的传感器系统，其检测温度为-49℃～150℃，温度分辨率为0。1℃。
光纤荧光温度传感器
当前热门的研究，就是针对光纤荧光温度传感器，其是利用荧光的材料会发光的特性，来检测发光区域的温度。这种荧光的材料通常在受到紫外线或红外线的刺激时，就会出现发光的情况，发射出的光参数和温度是有着必然联系的，因此可以通过检测荧光强度来测试温度。
世界各国的高校都设计过此类传感器，例如，韩国汉城大学发现10cm的双掺杂光纤，在其915nm的地方所反射出的荧光强度所对应的温度指数是20℃～290℃；我国清华大学借用半导体GaAs原料来吸收光，进而以光随温度改变的原理，研发出了温度范围是0℃～160℃的光纤荧光温度传感器。
