X射线异物分析装置 EA8000

：Hitachi 日立
型号 ：EA8000

类型 ：金属元素分析仪器
测试范围 ：50(W)×200(D)×0～50(H) mm
测量时间 ：几分钟内对250×200 mm的样品检测出20 μm的金属异物
测量精度 ：250×200 mm（约B5尺寸）的电池电极板中20 μm
电源电压 ：AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA
适用范围 ：可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20 μm大小的微小金属异物并进行元素分析。

Hitachi X-Ray Particle Contaminant Analyzer EA8000

可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20 μm大小的微小金属异物并进行元素分析。

全新原装，未拆封。

日立x射线EA8000

日立荧光分析仪EA8000

技术参数：

测量元素样品形状X射线源X射线照射方向检测器分析区域样品观察滤波器样品尺寸仪器尺寸重量电源/额定功率

原子序号Mg（12)～U（92)

粉体、固体

水冷室X射线管球（透射X射线） 小型空冷室X射线管球（荧光X射线）

管电压：15、17.5、20 kV（透射X射线）、45 kV（荧光X射线）

管电流：1～35 mA（透射X射线）、900 μA（荧光X射线）

下方照射型（透射X射线） 上方照射型（荧光X射线）

面型图象传感器（透射X射线） Vortex（荧光X射线）

30 mmΦ（透射X射线）

高分辨率CCD摄像头

4种模式自动切换（荧光X射线）

250(W)×200(D)×0～50(H) mm

1380(W)×1042(D)×1785(H) mm

660 kg

AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA

 

特点：

1. 可在几分钟内对250×200 mm的样品检测出20 μm的金属异物

例如要检测250×200 mm（约B5尺寸）的电池电极板中20 μm的金属异物，以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。株式会社日立高新技术科学通过X射线透视方法的开发，缩短了时间。检测速度达到了以往的100倍以上，可在3～10分钟内完成

 

2. 通过图像处理自动检测出异物

针对快速拍摄的250×200 mm的X射线投射图的整面进行快速图像处理，自动检测出异物点。

 

3. 对于检测出的异物点进行自动元素分析

只针对自动检测出的 异物点进行X射线荧光扫描，自动分析元素。

 

4. 电极板中的微小金属元素也可进行元素识别

对于样品中检测出来的金属异物，自动通过X射线荧光法进行元素识别。例如，以往在检测电极板中可能存在的20 μm左右的微小金属异物，只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时，由异物产生的荧光X射线会被基材所吸收，信号强度非常微弱。EA8000通过独发的高能量X射线光学系统，可对电极、有机薄膜内部所含的20 μm大小的微小金属异物进行元素分析。

5. 一体化操作，提高工作效率

与以往的技术相比，金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高，并且把显微镜等都组合在一台仪器内，各个系统联动可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。