瞬变电压吸收器件的应用 瞬变电压吸收器件的应用 上海三基电子工业有限公司 钱振宇 浪涌抗扰度试验是电子设备常用的抗扰度试验项目中的一种,导致浪涌冲击抗扰度试 验失败的主要原因是浪涌脉冲本身所含有的高电压(数千伏)和高能量(每脉冲浪涌波含有 的能量达到几百焦耳。作为比较,每脉冲的脉冲群信号含有的能量仅仅是毫焦耳级的;而每 脉冲静现放电波形含有的能量是皮焦耳级的)。过高的差模电压幅度会导致输入器件击穿损 坏,而过高的共模电压会导致线路与地之间的绝缘层击穿。举例来说,电子设备由于器件击 穿后的阻抗很低,浪涌所产生的大电流可以使器件产生过热而损坏。对于电源电路来说,浪 涌到来时,整流和滤波电容提供了很低的阻抗,浪涌所产生的大的电流要流过整流二极管, 当整流二极管不能承受这个电流时,就会发生过热而烧毁。另外,浪涌对滤波电容的充电, 也会使电容上的电压出电容耐压允许的程度,而导致电容击穿和损坏。 由于浪涌脉冲的上升时间较长(微秒级),脉宽较宽(几十微秒至 1 毫秒),因此浪涌 脉冲不含很高的频率成分,对电路形成的干扰以传导为主。 对于浪涌脉冲的这种高能量和所含谐波频率相对偏低的特点,采用一般的滤波(如电源 线滤波器和信号线滤波器)和吸收(如铁氧体磁环),基本上是无效的(用示波器观察,进 入和离开这些器件的浪涌脉冲几乎没有发生变化),而有用的就是浪涌保护器件(或称 浪涌吸收器件、浪涌抑制器件和瞬变电压吸收器件等),用在设备的电源和信号端口,阻止 浪涌脉冲进入设备的内部。 常用的浪涌保护器件有气体放电管、压敏电阻、硅瞬变吸收二极管和半导体放电管等几 种。