电性能测试

发布时间:2016-09-19

NI SMU - 电性能测试的佳选择|电性能测试

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。

美国仪器(National Instruments, NI)为自动化测试的,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。


      

 

满足多种仪器功能,提供高精度测试需求

分辨率:100 fA 或 100 nV
取样率:1.8 MS/s
性能:整合高精度供电电源、数字万用表,单一通道同时控制与量测电压、电流
优势:提高量测精度,降低硬件成本。不需复杂接线,透过高速采样率与可程控电源供电,提供相当于示波器、信号发生器、脉冲发生器与电子负载等功能

系统级SMU – 多信道同步、易扩充

传统SMU测试系统,需透过仪器控制才能由PC控制,同步效果不佳、不俱可扩展性和灵活性。NI SMU 使用 PXI 平台,利用 PXI 高速传输低延迟的特性,提升10 倍传输速率。透过PXI 背板与模块达到通道间、机箱间的同步,系统规划扩充方便。


负载响应控制 – 优化DUT测试

NI SMU提供10 μs反应速度,搭配NI SourceAdpat Technology技术,可针对特定负载提供定制化调制,优化DUT测试。



                 

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