
天瑞仪器(股票代码:300165) 国内家ROHS仪器上市企业 地址:深圳宝安松岗芙蓉东路天瑞大厦
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X荧光镀层测厚仪完全满足客户铜镀锡、铜镀镍、铜镀银、铜镀金、铜镀镍镀金、镍镀金、铁镀锌、铁镀铬等常用金属镀层测厚分析,并具有开放性工作曲线功能,能根据具体需求添加适合现场使用的镀层测试工作曲线,能够满足所有金属镀层测厚分析。新一代国产镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。
Thick800A产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.005um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:5层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Ag靶;
滤光片:3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
样品腔:330×360×100mm