| Ramp - Hi功能是直流耐压测试(DCW)或绝缘电阻测试(IR)时所具有的功能，该功能可以由操作者人为设定打开或者关闭。（仪器显示 Ramp - HI ON or OFF） |
当被测物呈现出很强的电容特性时，在量测直流耐压
的时候，由于将电压施加的瞬间，被测物的电容特性
造成的一个瞬间的充电电流会很大，而这个电流很可
能已经大于了操作者在测试前在仪器上面设定的大
漏电流，仪器会认为是漏电流过上限而报警，为了
避免误判，可以利用仪器的电压缓升(Ramp-Up)来解
决该问题。 |  |
在实际操作过程中，电压缓升浪费工作时间，特别是在生产线测试，测试时间非常宝贵，不可能用延长缓升时间来避免误判，Ramp-Hi就很好的解决了这个矛盾，当Ramp-HI设定打开时，它为操作者提供了在短时间使得被测物充电，而且在充电过程中的大电流也不予判定，待充电过程结束后，在对被测物施加真正的测试电压，使得量测资料真正可靠，也大大缩短测试时间，提高了生产效率。(如图所示)
(Ramp-Hi功能是华仪公司的，在美国和台湾均有) |
