超声波测厚仪，涂层测厚仪 霍尔效应测厚仪 校正可采用两种方式：一是用标准试块校准，二是通过设定声速来校准。
一、用标准试块校准：
? 单点校准：该模式下的校准只能在2-PT(双点)方式为“关”时进行，即按MODE键直至
显示THK为止。按CAL/ON键，CAL开始闪烁，期间使探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯（ ）
亮，即读数稳定。此时显示值可能与校准试块的已知厚度不匹配。此时可让探头保持耦合，也可
取下探头。用▲和▼调节显示值，使之与校准试块的厚度一致，然后在按CAL/ON键，完成校准。
二、双点校准：按MODE键，直至显示2-PT（双点校准方式），按CAL/ON显示当前状态（开或关）
。用▲或▼启动2-PT再按CAL/ON，则2-PT指示灯开始闪烁，出现“LO”（薄）校准的提示，将
探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯（ ）亮，即读数稳定。可让探头保持耦合，也可取下探
头。用▲和▼调节显示值，使之与校准试块的厚度一致，然后在按CAL/ON键，出现“HI”（厚）
校准的提示，将探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯（ ）亮，即读数稳定。用▲和▼调节显
示值，使之与校准试块的厚度一致，然后按CAL/ON键，即完成双点校准。
说明：校准试块的材质要与被测物件的材质一致或者接近。为了达到佳测量结果，单点校准时
，校准块的厚度应等于或稍大于被测物件的厚度。同理，双点校正时，较厚校准块的厚度也应等
于或大于待测物的大厚度，而薄校准块的厚度则应尽可能接近预计测量范围的下限。
