KDY-1A

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KDY-1A便携式四探针电阻率/方阻测试仪

KDY-1A便携式四探针电阻率/方阻测试仪
产品介绍   
 半导体行业使用，仪器测量范围0.01-199.99Ω.cm,测量电流10mA-100mA. 
仪器仅重2Kg，方便携带。价格便宜（包含探针头）  
   产品简介
1、符合半导体材料电阻率的国际及标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。
     方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
     整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
     测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。  


KDY-1四探针电阻率/方块电阻测试仪      
产品说明    
      KDY-1型四探针电阻率测试仪是我公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下          特点： 
1、 配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更。 
数字电压表量程：0—199.99mV  灵敏度：10μV  输入阻抗：1000ΜΩ 
                  0—9.999mV  灵敏度：1μV  输入阻抗：10ΜΩ 
                  基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) 
2、 可测电阻率范围：0.001—6000Ω?cm。 
3、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。 
4、 流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之几精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。 
电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。 
5、 仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。 
6、 可加配HQ-710E微处理机及打印机，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率大值、小值、大百分变化率、平均百分变化率等内容。 
7、 四探针头采用国际上的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高 


STY-3导电型号测试仪  
产品简介 
      STY—3型导电型号测试仪是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。 
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计指示型号方向。仪器灵敏度分高、低两档，可判别大部分非本征半导体材料型号（从高阻单晶到重掺单晶）。
二、技术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经国内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果可靠。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接指示，同时中心刻度为零位检流计也在指示型号，指针向左偏转被测样品为N型，指针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：先用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，大功耗（热笔加热状态）小于40W，平均功耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg  

STY-1导电型号测试仪
产品简介 
      STY—1型导电型号测试仪是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω·cm高阻单晶到10-4Ω·cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。 
  二、技术性能
1、可判别锗、硅材料的电阻率范围：
   锗：非本征锗～10-4Ω·cm
   硅：104～10-4Ω·cm
   实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。
2、热电流测量范围：0～±1μA   分六个量程：
±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA
大偏转灵敏度：1×10-11A/格
3、锗、硅单晶直径及长度：不受限制。
4、显示方式：中心刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。
5、探针：选用ASTM F42标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内。冷笔与室温相同。
6、电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。
7、外型尺寸：170×160×230（mm）
8、重量：约2.5kg  

STY-2R型全类型整流法导电型号测试仪  
       STY-2R型导电型号测试仪是严格按照国际标准SEMI MF42-1105及标准GB/T1550中的全类型整流法设计生产。 由于将三根测试探针做成测量探头，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。
    探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。  技术指标如下：     可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05-1000Ω·cm。
1.        实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104Ω·cm。
2.        可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制。
3.        显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号。
4.        探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整。
5.        外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）。 
6.        重量：约3kg。 

STY-2导电型号测试仪 
 产品说明    
      本台仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。 
使用方法： 
1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。 
2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源指示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到工作温度时，保温（绿）灯亮，即可进行型号测量。热探笔随后自动进入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（国标及国际标准规定的温度）。 
3、先将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。 
4、测量电阻率较高的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提高仪器的测量灵敏度。 
5、在P型、N型显示不稳定时，以多次能重复的测量结果为准。 
6、测量时握笔的手不要与被测单晶接触，以免人体感应影响测量结果。 
6、测量范围小于1000Ω.cm



TL-1C、LT-1C高频光电导少子寿命测试仪
     1、  用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
2、  设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率＞25次/s      脉宽＞60μｓ          光脉冲关断时间＜1μｓ
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）   脉冲电流：5A～20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率：30MHz       低输出阻抗      输出功率＞1W
2.3、放大器和检波器
频率响应：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）
寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）
 LT-1、LT-100C、TL-1C高频光电导寿命测试仪。

LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪  
      该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。我公司为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。                                                       
      该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 
  LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：
1、  可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、  可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、 配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、 配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、 测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω?㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω?㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围      0.25μS—10ms   

LT-1高频光电导寿命测试仪、高频光电导少数载流子寿命测试仪            
    产品说明    半导体行业使用，测量范围可从1-6000μs ρ≥1Ω.cm
   1、  用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
2、  设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率＞25次/s      脉宽＞60μｓ          光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）   脉冲电流：5A～20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率：30MHz       低输出阻抗      输出功率＞1W
2.3、放大器和检波器
频率响应：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ

FQR-7502型涡流导电仪  
用于处理非铁磁导体的电导率值及与材料电导率值直接有关性质的测量。例如：不锈钢和奥氏体合金混料分选，某些青铜合金规格检验，钛合金时效处理控制，不锈钢试验等。
【主要技术指标】：
1. 测量范围：0.5-5.5 MS/m 
2. 测量精度：分度盘端值 ±1％ 
3. 工作条件：0-40℃ 
4. 工作电压：3V(一号电池两节) 
5. 电池寿命：约200小时 
6. 外型尺寸：220*153*96(mm) 重量：2.2kg 
7. 仪器配套：主机一台，探头一只(附于主机上)
 校正块：二块

FQR-7501型涡流导电仪 
         用于测量非铁磁导体的电导率值及与材料电导率值直接有关性质的测量。例如：铜浇铸控制、铜中氧含量、金属纯度、铝浇铸控制、铝合金铸锭中的铜析、合金混料分选，间接硬度及抗拉强度测量（对某些硬铝合金），硬铝热处理控制、过烧检验等。
【主要技术指标】：
1. 测量范围：5-62 MS/m
2. 测量精度：分度盘端值±2％
3. 工作条件：0-40℃
4. 工作电压：3V(一号电池两节)
5. 电池寿命：约200小时
6. 外型尺寸：220*153*96(mm) 重量：2.2kg
7. 仪器配套：主机一台，探头一只(附于主机上) 
 校正块：二块


FZ-2010型半导体粉末电阻率测试仪
FZ-2006型半导体粉末电阻率测试仪 
        概述   本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关国际标准设计的。 仪器的电流输出为 10 μA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户， 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。  
     适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.  
      仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器， 加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点， 并有自校功能。 
       本仪器采用国际通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差， 克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。
     本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。
主要技术指标： 
测量范围：
电阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω 
电阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm
测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字） 
测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV
测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字） 
测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
电流量程：10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA 
试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末 
试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm 
试样高度：16mm ± 0.5mm 
测量误差：±0.1mm  

STZ-8型半导体导电型号鉴别仪 
        概述  STZ—8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型 “P”和 “N”的测量仪器,是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器,测量范围广硅材料电阻率从10-4~103Ω?cm,仪器采用高灵敏度放大电路和判别电路，将材料上的微弱信号放大，并用 “P” “N”数码直接显示，仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。
用作太阳能多晶材料分选时,采用整流法,对<0.1Ω-cm的材料具有声光报警功能,广泛应用于太阳能电池生产的原材料筛选环节,快速高效。
主要技术指标：
1．  测量范围：硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm 
   温差法：10-4~10Ω?cm 
   整流法：10~103Ω?cm，并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。
2．  可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。 
    可测半导体材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
3．  显示方式：P、N 灯显示。
4．  测试探头：手持式 探针间距3 mm         探针Φ1mm 高速钢
5．  电源：220V 50HZ 20W
6．    仪器尺寸：100×260×260 

BD-86A型半导体电阻率测试仪 
        概述    BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的新的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和技术上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度高，稳定性好，输入阻抗高，使用方便、价格低廉等特点。 
   仪器主要技术指标：
1．  测量范围：电阻率10-3—103Ω-cm，分辩率为 10-4Ω-cm ，可扩展到105Ω-cm 
  方块电阻10-2—104Ω/□，分辩率为10-3Ω/□，可扩展到106Ω/□
薄层金属电阻10-4—105Ω，分辩率为10-4Ω
2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm；  长度：150mm(可扩展500mm) 
     3.测量方式：轴向、断面均可
4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V 
             （2）测量误差：±0.3%读数±1字 
             （3）输入阻抗：大于108Ω 
             （4）显示3 1/2 位红色发光二极管（LED）数字显示 
                  0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示
5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能
（1）       直流电流：0—100mA连续可调
（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
（3）       分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
（4）       电流误差：±0.3%读数±2字
6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标
7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标
8．电源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W
9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm

SZT-2000型数字式四探针测试仪 
        概述    SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。 
       仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。 
       仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
       仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标：
1．  范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm 
         方块电阻10-3—103Ω /□ 
         电阻10-6—105Ω
2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V  
  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字） 
              2 mV档以上±（0.3%读数+2字） 
  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω 
              20mV档以上>108Ω 
  (4)显示3 1/2位数字显示，0—1999
具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示 

BT-900A型电缆半导电屏蔽层电阻测试仪     
简介 
    BT-900A型电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪是根据国标GB11017-89所规定的测试方法和技术指标而设计的，用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 
   仪器由电气箱和测试架两大部分组成，测试架具有夹持加压机构，能够良好地夹紧各种不同直径的屏蔽电缆，具有环形准确度达0.3%的电位电极和电流电极确保仪器取样位置精度高、使用方便、外形轻巧，适应在常温和恒温箱中测量。电气箱具有高精度的数字电压表，测量范围10μV—2V。高稳定性的直流恒定电流源，输出电流从0.1μA—10mA连续可调，测量电阻率范围宽为10-104Ω·m ,测量电阻值，直接数字显示：单位、小数点也都自动显示，仪器还有极性转换和自校功能。 
    本仪器适合电缆研究部门，电缆厂，对于高压交联电缆半导电屏蔽层电阻率的测试是必须具备的测量手段。 
主要技术指标
1．  测量范围  电阻率 10-5--104Ω·m；电阻10-3--107Ω
2．  测量精度  ±(0.5%读数+2字)  20MΩ量程±(3%读数+2字)（在0.1mA、2V时）
3．  电压量程  20 mV、200 mV、2V
4．  测试电流 0.1μA、1μA、10μA、100μA、1mA、10mA
5．  显  示 3 1/2 位LED数字显示0---1999、单位、小数点、极性自动显示
6．  测试架    电缆导电屏蔽层直径：10mm—35mm 
         电缆绝缘屏蔽层直径：50mm—140mm 
         电位电极间距：50mm±0.25mm 
         电流电极与电位电极距离>25mm 
         备有13付内屏蔽电位电极和电流电极 
  7．尺寸      电气箱：360mm×420mm×120mm 
               测试架：202mm×162mm×319mm 
ST-1型数字式电线电缆导线电阻测试仪     
简介 
        ST-1型数字式电线电缆导线电阻测试仪是 本公司研制的测量电线电缆电阻的仪器，它是引用测量导线电阻率的新技术而设计的高级的具有高灵敏度高精度的低电阻测量仪器，其性能完全符合GB3048.2—94的技术要求，它由高灵敏度高精度直流数字电压表和宽范围高稳定大功率直流恒定电流源所组成，根据直流电流—电压降原理制成，由于采用了四端子测量技术，能有效地消除在测量时因接触电阻和引线电阻带来的误差，可以克服以往采用双臂电桥测量操作繁琐、灵敏度低、误差大等问题。
仪器测量低电阻灵敏度高达0.1μΩ,仪器采用1mA—10A电流测量，四位半LED数字显示，配上电线测量夹具，可以对各种不同材料，不同直径规格的金属导线、铜排的电阻率进行快速准确地测量，仪器设有不同电流、电压量程自由排列组合测量方式，用户可以根据实际测量对象的需要选择适当的电流来测量低电阻，仪器自动显示测量值的单位和小数点，仪器还可以直接作为数字电压表，恒定电流源输出，一机多用。
本仪器具有测量精度高，灵敏度高达0.1μΩ,测量范围广，从0.1μΩ—2 KΩ,稳定性好，抗干扰能力强、操作简单、电阻值直接数字显示等特点，适用于大中型电线电缆厂，金属铜材厂、电机、高压电器、开关、变压器、电力供电系统、汽车、飞机、轮船等行业的需要。
仪器主要技术指标：
1．测量量程：0.2mΩ*、2mΩ、20 mΩ、0.2Ω、2Ω、20Ω、200Ω、2000Ω
2．测量误差：±（0.1%读数+0.05%满度+2个字）
3．分辩率：0.1μΩ
4．测试电流：1mA、10 mA、100 mA、1A、10A
5．电压量程:20 mV、200 mV、2V
6．LED显示：4 1/2位数字显示（0—19999）自动显示小数点、测量单位、极性、量程溢出
7．极性转换：具有电流极性转换装置
8．供电电源：单相交流220V±10%，50—60HZ；功率150W>200W  
9．外形尺寸：520mm×160mm×460mm及其他尺寸 
ST-2型数字式电线电缆导线电阻测试仪      
简介 
       ST-2型数字式低电阻测试仪是 本公司新研制的测量电线电缆导线电阻的仪器，它是继SW-1、SW-2型数字微欧计之后，引用测量导线电阻率的新技术而设计的高级的具有高灵敏度高精度的低电阻测量仪器，其性能完全符合GB3048.2—94的技术要求，它由高灵敏度高精度直流数字电压表和宽范围高稳定大功率直流恒定电流源所组成，根据直流电流—电压降原理制成，由于采用了四端子测量技术，能有效地消除在测量时因接触电阻和引线电阻带来的误差，可以克服以往采用双臂电桥测量操作繁琐、灵敏度低、误差大等问题。
         仪器测量低电阻灵敏度高达0.01μΩ,仪器采用1mA—10A电流测量，四位半LED数字显示，配上电线测量夹具，可以对各种不同材料，不同直径规格的金属导线、铜排的电阻率进行快速准确地测量，仪器设有不同电流电压量程自由排列组合测量方式，用户可以根据实际测量对象的需要选择适当的电流来测量低电阻，仪器自动显示测量值的单位和小数点，仪器还可以直接作为数字电压表，恒定电流源输出，一机多用。
          本仪器具有测量精度高，灵敏度高达0.01μΩ,测量范围广，从0.01μΩ—2 KΩ,具有稳定性好，抗干扰强、操作简单、电阻值直接数字显示等特点，适用于大中型电线电缆厂，金属铜材厂、电机、高压电器、开关、变压器、电力供电系统、汽车、飞机、轮船等行业的需要。
仪器主要技术指标：
（1）       测量量程：0.2mΩ、2mΩ、20 mΩ、0.2Ω、2Ω、20Ω、200Ω、2KΩ
（2）       测量误差：±（0.15%读数-0.05%满度+2个字）
（3）       分辩率：0.01μΩ
（4）       测试电流：1mA、10 mA、100 mA、1A、10A
（5）       电压量程:2mV、20 mV、0.2V、2V
（6）       LED显示：4 1/2位数字显示（0—19999）自动显示小数点、测量单位、极性、量程溢出
（7）       极性转换：具有电流极性转换装置
（8）       供电电源：单相交流220V±10%，50—60HZ；功率150W
（9）       外形尺寸：520mm×160mm×460mm 
GD-9102型半导电电阻测试仪      
简介 
       我公司为了满足用户的测量要求,扩展并补充DB—4型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪的测量范围,研制了GD-9102半导电电阻测试仪,它可以测量橡塑半导电材料的电阻(如半导电电缆护套及接管),也可以用于其他电阻材料和半导电材料的测试,可以与DB-4型半导电橡塑电阻仪取样器配套使用,DB-4型测量范围是10-4Ω·cm~105Ω·cm它可以将仪器量程扩展到106Ω、107Ω、108Ω，此检测仪器采用四端子测量法，能够消除接触电阻所引起的测量误差，这方面优点是采用任何高阻计或兆欧表测量所不能达到的，因此本仪器可以地对半导电材料的106~108Ω的中高值电阻做的测量，仪器具有操作方便，测量精度高，数字显示，结构紧凑等特点。
主要技术指标：
1．  工作条件：温度：23±2°C;                  湿度：< 65%
2．  测量量程：2兆欧、20兆欧、200兆欧
3．  测量误差：2兆欧档 ±(0.5 %读数+2字) 
            20兆欧档 ±(2 %读数+2字) 
         200兆欧档 ±(3 %读数+2字)
4．  测量电流： 1微安、0.1微安、0.01微安、定值输出
5．  显  示：3 位数字显示0~1999，单位小数点及过载自动显示
6．    电  源：交流 220V±10%  50HZ或60HZ 
SYZ-90矿用电缆过渡电阻测试仪      
简介 
         SYZ-90矿用电缆过渡电阻测试仪是为贯彻国标GB1170—74的技术要求而研制的，是检测矿缆中过渡电阻的仪器，该仪器由上海电缆研究所、上海电缆厂、沈阳电缆厂等二十多家主要电缆行业企事业单位参加，对它的技术指标进行了考核，并通过了技术鉴定。 
        十多年来，本仪器已在几十家电缆厂中得到应用，受到热烈欢迎和好评，仪器采用电动取样器，自动将矿缆中的过渡电阻值和相对应的相位在仪器中用符号和数字自动显示，仪器取样方便，测试可靠，大大节省了劳力，提高了测试精度，提高了功效，我 公司在前些年又对原85型仪器的电路和夹具作了较大的改进，使仪器性能上有了更大的提高，操作更方便，生产了目前的具有 水平的SYZ-90型矿用电缆过渡电阻测试仪，取代了原来的KZY-85型仪器。 
   SYZ仪器为携带式，主要包括电气测试部分和机械传动机构两部分。 
   电气测试部分：由直流数字电压表和直流恒流源组成，测量结果采用LED数字显示，测试电流具有0—5mA可调节输出，也以LED数字显示。 
   机械传动机构部分：采用手动操作夹具、电动取样器取样。 
   SYZ—90仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国标GB1178—74的要求。 
   SYZ-90型矿用电缆过渡测试仪适用于电缆厂、矿山、电力输送、科学研究等单位。是矿用电缆制品质量检测的仪器。
仪器主要技术指标：
1.     测量范围：1Ω—10KΩ。
2.     量程：2KΩ；10KΩ两档
3.     电压量程：2V；20V；200V
4.     测试电流：0—50mA可调
5.     测量精度：±（0.5%读数±2字）
6.     显示：3 1/2 位LED数字显示0---1999单位，小数点和过载自动显示
7.     自动判别所测电缆相位，用A、B、C发光管显示
8.     测试架：（1）试样长度L<=500 mm 
          （2）试样外径Φ20—Φ100mm 
           (3)探针直径<=Φ1.5mm 
           (4)手动操作电动取样，判别取样芯线位置是否正确及其所属相线
9．电源：220V±10%   50HZ或60HZ 功率<70W 

FZ-9601粉末电阻率测试仪      
简介 
          本仪器是FZ—9101型粉末电阻率测试仪的改进型，参照有关国际标准进行设计，用于粉末测量，本仪器将原单片微机的数据处理部分舍去，采用硬件进行电阻率的自动计算，使仪器的可靠性和稳定度大大加强，更方便于用户，而且价格低廉，实惠。

  仪器主要包括电气箱和测试架两部分组成，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成，数字直接显示压力和电阻率或电流值；测试架为压力传感器的加压机构和粉末标准容器，压力机构采用手动操作，压力平稳，仪器有自校功能，本仪器具有测量精度高、稳定性好，重复性好、使用方便等特点，本仪器采用国际通用的电流、电压降法即四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率。因此重复性好。 
  本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等校、科研部门，是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。 
 主 要 技 术 指 标
1．  测量量程：0.2Ω-cm(即2KΩ×mm2/m)
分辩率：0.1mΩ-cm 
  2.测量电压量程：10mV   误差±0.3%读数±2字
分辩率：5μV
3．  量电流：0—100mA连续可调，误差±0.3读数+2字
4．  试样粒度：40目以下—60目以上（标准筛网）
5．  试样容器：内腔Ф16.30±0.1mm
6．  试样高度：16mm±0.5mm
测量误差：±0.1mm 
  7.取样压力：4 M Pa ± 0.05 M Pa (40Kg/cm2 ± 0.5 Kg/cm2)
压力量程：5 M Pa  0—5 M Pa 可调
8方式：数字显示电阻、电阻率、压力单位、小数点自动显示
9．电源：220±10%    50HZ—60HZ 功率消耗 < 60W
10. 外形尺寸：440mm×139mm×360mm



FZ-2000型粉末电阻率测试仪      
简介 
        本仪器是FZ-9601型粉末电阻率测试仪的改进型，参照有关国际标准进行设计，将测量范围扩大测试电流增大，适用于粉末测量，和固体金属材料测量，又可以直接用数字显示电阻或电阻率值，使仪器的可靠性和稳定性大大加强，更方便于用户，而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对金属粉末，也可以对固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。
仪器主要包括电气箱和测试架两部分组成，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成，测试架为压力传感器和加压机构和粉末标准容器，压力机构采用手动操作、压力平稳。仪器有自校功能，本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点。 
      本仪器采用国际通用的电流、电压降法即四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。
本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要工具。
主要技术指标：
1、  测量范围：电阻0.1μΩ-2KΩ,分辨率0.1μΩ 
      电阻率0.1μΩ.cm-2KΩ.Cm，分辨率0.1μΩ.cm 
      测量误差±（0.3%读数+2字）
2、  测量电压量程：2mV、20 mV、200 mV、2V，分辨率1μV 
                测量精度±（0.3%读数+2字）
3、  测量电流：0-10A连续可调，电流量程：1mA、10 mA、100 mA、1A、10A
4、  试样粒度：40目以下—60目以上（标准筛网）
5、  试样容器：内腔Φ16.30±0.1mm
6、  试样高度：16mm±0.5mm
测量误差：±0.1mm
7、  取样压力：4Mpa ±0.05 Mpa  (40kg/cm2±0.5 kg/cm2)
压力量程：10 Mpa  0-10 Mpa可调
8、  显示方式3 1/2数量字显示电阻、电阻率、压力、单位、小数点自动显示。
9、  电源：220±10%   50HZ-60HZ 功率消耗<150W消耗
10、             外形尺寸电气箱：440mm×139mm×360mm
11、                   备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用。 



TA-901型多功能炭素材料电阻率测试仪      
简介 
        TA-901型炭素材料电阻率测试仪是测量多功能低值电阻的仪器，它是继目前在炭素行业大量使用的SW-1型和SW-2型数字微欧计之后，发展起来的崭新的具有高灵敏度、高精度的多功能测量电阻率的测试仪器，是根据国际GB6717-86《 炭素材料电阻率测量方法 》的规定而设计的，因此性能完全符合国标的技术要求。它由高灵敏度、高精度直流数字电压表和宽范围高稳定的直流恒定电流源和标准多功能夹具所组成，仪器根据直流电流—电压降原理制成。由于采用了四端子测量技术，能有效地消除测试时因接触电阻、引线电阻所带来的误差，可以直接显示出炭素试样的电阻率。 
   本仪器测量电阻灵敏度达0.2μV，采用1mA—5A电流测量，由三位半LED数字显示，配接相应的标准夹具可以对直径为10mm、20mm和45mm的标准炭素试样进行多位置的自动电阻率值测试，还可以配置测量粉末电阻率的测试架装置（同时数字显示压力和测量高度）。也可以当作高灵敏度数字微欧计对各种电器、各种电机的绕组电阻、接地电阻、导体电阻和金属焊接电阻进行准确地测量。仪器设有多电流量程和电压量程，可以自由排列组合成电阻量程，用户可以根据实际测量对象的需求选择适当的电流量程和电压量程测试低电阻。仪器自动显示电阻值的单位和小数点。仪器具有高精度高稳定的多量程直流恒定电流源，可以从0—5A极宽范围自由调整输出恒定的直流电流。 
   本仪器测量精度高达0.5%，测试范围为0.2μΩ—2KΩ，具有稳定性好，抗干扰能力强、操作简单、数字显示等特点，适合于各炭素材料厂以及大中型电机、高压电器、开关、变压器、电力供系统、汽车、飞机、轮船等行业的需要。
主 要 技 术 指 标
主机：1.测量范围：  电阻率：10-3--10Ω·cm;     电阻：2×10-7--10Ω；
2.小电阻分辩率：0.2μΩ
3.测量误差：0.5%读数+2字（当环境温度过20°C时，附加温度误差为0.02%/°C）
4.数字电压表：量程2mV、20 mV、200 mV、2V；
5．直流恒定电流量程  5A、1A、100mA、1 mA（0—5A连续可调）
6．显 示：3 1/2 位数字显示0—1999      LED显示小数点、单位、极性、和过载自动显示


TA-902型炭素材料电阻率测试仪      
简介 
         TA-902型炭素材料电阻率测试仪是测量低值电阻的仪器，特别适用于测量高功率、高功率石墨的电阻率值。
       炭素材料制品的电阻率值是评价炭制品电极质量，决定产品出厂等级的重要物理指标，也是在炭制品加工中控制工艺过程的重要参数。由于国内尚无统一的较理想的炭素材料电阻率测试仪，不少厂家只好自己拼凑一些装置进行测量，往往因为电源不稳、测量装置精度不高产生很大误差，造成产品等级混乱和产品质量下降等严重问题，随着高功率和高功率石墨电极产品的出现，它们的电阻率仅为5--6μΩm，鉴于上述情况，的TA-902型炭素材料电阻率测试仪具有90年代水平，它是根据国标GB6717-86《炭素材料电阻率测量方法》的规定而专门设计的，是测量炭素制品电阻率的低值电阻测量的仪器，它的性能和技术指标完全符合国标的要求，它由高灵敏度、高精度直流数字电压表和宽范围高精度大功率的直流恒定电流源所组成，仪器根据直流电流—电压降法，采用四端子测量技术，有效地消除了在测量低值电阻时因接触电阻和引线电阻所带来的误差，可以直接用数字显示出测量的电流值和电阻率值。 
      本仪器为测试台结构，设有20mV、200mV和2V三个量程，测量电阻灵敏度达0.02μΩ,电阻率灵敏度高达0.0002μΩ·m。由四位半大型LED数码管显示电阻率值，电流设有10A、50A两个量程，电流连续可调且由四位半大型LED数码管显示电流值，并配有智能化电脑进行数据处理供用户选购。 
     本仪器测量电压精度高达±0.05%，输出恒流直流电流精度和稳定度优于0.1%，确保了本仪器测量电阻精度优于0.2%，可以准确测量炭素电极的电阻率，因此本仪器适合各炭素厂、炼钢厂和研究所用于大功率电极、特别是高功率电极的电阻率测量和等级仲裁测量。
主 要 技 术 指 标
1.       测量范围：  炭素电极长度：1.6m—2m; 炭素电极直径：100mm—600mm 
               电阻率：2×10-8--2Ω·cm; 电阻：0.02μΩ--2Ω；
2.小电阻分辩率：0.02μΩ
3.电压量程：20 mV、200 mV、2V；
测量误差： ±（0.2%读数+2字）
显   示：4 1/2 位LED数字显示0—1999、单位、小数点、过载自动显示； 




TA-903型炭素电极接头电阻率测试仪      
简介 
        TA-903型炭素电极接头电阻率测试仪是多功能测量低电阻的仪器，它是目前炭素行业中广泛使用的由我公司开发研制的测量实验室炭素样块电阻率的TA901型炭素材料电阻率仪，测量炭素成品电极电阻率的TA-902型炭素电极电阻率仪的基础上，新研制出TA-903型专门测量炭素电极接头电阻率的仪器，由于炭素行业的不断发展，高功率和高功率石墨电极的大量生产对影响电极质量装配，及工艺具有关键作用的接头电阻质量检测变得更加突出了，因此我公司新研制出本仪器，来满足广大炭素行业的需要。 
      仪器是根据部标YB/T120-1997《炭素材料电阻率的测量方法》的规定而设计的仪器，运用直流电流---电压降法，采用四端子测量技术可以有效地排队在测量时导线电阻和接触电阻引起的误差，准确地测量出接头电阻率值。 
      为了用户使用方便，仪器为携带式铝合金外壳结构，设立电压档具有2mV、20 mV、200 mV、2V等四个量程，直流恒流电流具有高精度高稳定性0—20A连续可调，测量电阻率灵敏度可高达0.05μΩ,测量精度优于0.5%,测量电流值和电压值均由四位数字显示，直接读数。 
      它可以采用电阻读数，也可以根据接头的几何形状，用户设置接头的修正系数输入仪器，直接数字显示电阻率值，使用很方便，性能稳定测量精度高，抗干扰能力强，深受用户欢迎、适合各炭素厂电极接头生产线、钢厂和研究所的需要。
主 要 技 术 指 标
1．  电阻范围：各种炭素电极接头，电阻0.05μΩ--2Ω。
2．  电压量程：2mV、20 mV、200 mV、2V
分辨率：1μV；    测量精度：±（0.5%读数+2字）；       3 1/2位数字显示：0—1999
3．  恒流源输出：0—20A连续可调。
4．  3 1/2位数字显示，输出精度±（0.5%读取+2字）0—1999
5．  电源：交流220V±10%50HZ，240W。



TA-904型电炭制品电阻率测试仪      
简介 
       TA-904型炭素电炭制品电阻率测试仪是多功能测量低电阻的仪器，它是在目前炭素行业中广泛使用的由我公司开发研制的测量实验室炭素样块电阻率的TA901型炭素材料电阻率仪，测量炭素成品电极电阻率的TA-902型炭素电极电阻率仪的基础上，新研制出TA-904型专门测量炭素电刷及制品电阻率的仪器，由于电机行业的不断发展，高功率和高功率石墨电极的大量生产对影响电器质量装配，及工艺具有关键作用的电极电阻质量检测变得更加突出了，因此我公司新研制出本仪器，来满足广大电炭行业的需要。
       仪器是根据部标JB/T8133-2-1999《电炭制品电阻率的试验方法》的规定而设计的仪器，运用直流电流—电压降法，采用四端子测量技术可以有效地排除在测量时导线电阻和接触电阻而引起的误差、准确地测量出样品电阻率值。 
         为了用户使用方便，仪器为携带式金属外壳结构，设立电压档具有2mV、20 mV、200 mV、2V等四个量程，直流恒流电流具有高精度高稳定性0—20A连续可调，测量电阻率灵敏度可高达0.05μΩ,测量精度优于0.5%,测量电流值和电压值均由四位数字显示，直接读数。
       它可以采用电阻读数，也可以根据样品的几何形状，用户设置样品的修正系数输入仪器，直接数字显示电阻率值，使用很方便，性能稳定测量精度高，抗干扰能力强，深受用户欢迎、适合各电刷及电炭制品厂生产线、工厂和研究所的需要。 
主 要 技 术 指 标
1．  电阻范围：各种电炭制品，电阻0.05μΩ--2Ω。
2．  电压量程：2mV、20 mV、200 mV、2V
分辨率：1μV。
测量精度：±（0.5%读数+2字） 
     3 1/2位数字显示：0—1999
3．  恒流源输出：0—20A连续可调。 
                  3 1/2位数字显示，输出精度±（0.5%读取+2字）0—1999
4．电源：交流220V±10%50HZ，240W
5．测试架：试样长度：64mm、32mm试样面积：10×10 mm , 10×8mm , 可自动进行0o ，180o 
   双方位检测，电位针距：25mm 、16mm、误差0.5% 


J-52型手动测试台
J-2B型手动测试台
S-302-4型四探针测试台
DJ-II型电动测试台
S-2C型四探针测试台
S-2B型四探针测试台
S-2A型四探针测试台 
ST-102B型手动探针测试台
ST-102A型手动探针测试台
特性/规格
*.探针台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片  及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适   用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试
*.工作台面：300mm*230mm；载物台直径：4‘
*.放大倍数：50-100倍；
*.轴向转角：0-360°，并可由旋钮微调±60°
*.探针调整架：X、Y、Z三维微调0-7mm
*.探针架座：任意位置固定 
RTS-8型数字式四探针测试仪 
       RTS-8 型 四 探 针 测 试 仪
    RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等校对半导体材料的电阻性能测试。

RTS9型数字双电测四探针测试仪RTS-9 
       RTS-9 型 双 电 测 四 探 针 测 试 仪
    RTS-9型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。
    RTS-9双电测四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序。测试程序在计算机与RTS-9型四探针测试仪连接的状态下，通过计算机的并口实现通讯。
    测试程序控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析

 RTS-4型数字式四探针测试仪RTS-4 
       RTS-4 型 四 探 针 测 试 仪    
        RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 
 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等校对半导体材料的电阻性能测试。
     RTS-4型四探针测试仪前面板

RTS5型双电测四探针测试仪RTS-5 
       RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。
    RTS-5型双电测四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
    测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析

RTS-3型手持式四探针测试仪  
   RTS-3  型四探针测试仪（手持式）
 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计； 
 体积仅为：185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高)； 重量：350g； 
 使用锂电池供电，一次充电可连续使用100小时；  
         RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等校对半导体材料的电阻性能测试。 
RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪 
       RTS-2/RTS-2A  型四探针测试仪（便携式）  
      测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 
 体积仅为：125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) 
  RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
    本仪器广泛应用于太阳能单晶（多晶）生产厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等校对半导体材料的电阻性能测试。



HP系列四探针探头
HT4高温四探针探头
SP-601型方型四探针探头
RTS7型二探针测试仪RTS-7 
       RTS-7 型 二 探 针 测 试 仪    
         RTS-7型二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料纵向电阻率的仪器。
    仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、科研单位、高等校对半导体材料的电阻性能测试。 
    技术指标
 测量范围
电阻率：10-4～105 Ω.cm； 分辨率：10-3Ω.cm；
恒流源
电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调
数字电压表
量程及表示形式：000.00～199.99mV；    
 分辨力：10μV；
 输入阻抗：>1000MΩ；
 精度：±0.1% ；
 显示：四位半红色发光管数字显示；极性、量程自动显示；
二探针探头基本指标
间距：3mm（可选其它间距）；
 针间绝缘电阻：≥1000MΩ；
 机械游移率：≤0.3％；
 探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；
 探针压力：5～16 牛顿(力)；
二探针探头应用参数
(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87进行)
 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
FMM四探针测试软件
 
 TFMM双电测四探针测试软件

*.一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户   程序,测试程序控制四探针测试仪进行测量并   采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加   以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地   记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电   脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可   以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对   数据进行各种数据分析。
*.详细记录被测试材料各种参数，结合测试数   据进行各种数据分析
*. 以直方图显示分析到的数据
*. 打开、保存、打印测试材料的数据
*. 把测试数据导出到Excel中进行更详细的数据   分析

PN-12A型导电类型鉴别仪
价格
特点/规格
*.原理：温差电法
*.电极：热探针和冷探针。
*.测量范围 :1mΩ.cm～20kΩ.cm
*.配备温度计
*.显示方式：用大型LED数码管分别直接显示

PN-30型导电类型鉴别仪
技术指标：
可判断硅材料的电阻率范围
温差法：10-4Ω·Cm～104Ω·Cm； 
 整流法：10-2Ω·Cm～104Ω·Cm；
硅单晶直径及长度
不受限制
显示方式
用N型和P型显示屏直接显示
探头
整流法：采用三根探针，采用碳化钨针；
 温差法：采用冷热两根探笔，探笔材料为钨棒，热笔采用PTC发热体加热         (冷笔保持室温热笔被加热到40-60℃)
电源及功耗
AC 220V±10%，50Hz <30W
外型尺寸
125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)
PN12型导电类型鉴别仪PN-12 
       PN-12型导电类型鉴别仪  
           温差法配有温控表，热探笔温度可由温控表设定，温度由60℃～150℃ 
 可判断硅材料的电阻率范围，温差法：10-4Ω·Cm～105Ω·Cm 
 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 
 体积仅为：125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) 
 不锈钢面板，工控指示开关  
        PN-12型导电类型鉴别仪采用整流法(也称三探针法)和温差法(也称冷热探笔法来判断单晶(或多晶)硅的导电类型(N型或P型)，用N型和P型显示屏直接显示单晶(或多晶)导电类型。  
     该仪器特别采用工控指示开关，显示清晰、经久耐用；可随机调零，温差法带有温控表。具有测量范围宽、体积小、重量轻、性能稳定、测试简便、准确可靠等优点。  
     本仪器完全符合硅单晶物理测试标准及美国A.S.T.M.标准中有关要求。可满足大专校，科研及生产单位对硅材料棒的纵向、截面及片子的导电类型判断的需要。  

台湾全信电子仪器有公司

地址：厦门市湖里区联发电子工业区

联络人：李丽  电话忙线请加QQ号码:1816418279
电话：0592-5632640  
手机：15259256976
传真：0592-5632644