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1961 |
光电扫描测量显微镜 |
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1966 |
为德国联邦物理技术研究（PTB）提供干涉比较仪 |
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1971 |
为PTB提供角度测量台和圆光栅检测设备 |
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1977 |
为PTB提供高精度纳米尺 |
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1989 |
新技术望远镜（NTT）的角度编码器 |
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1999 |
大型望远镜（VLT）的角度编码器 |
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1999 |
多个间国际NANO-3长度比对测量的直线光栅尺 |
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2001 |
为PTB提供纳米干涉比较仪 |
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2003 |
海德汉，PTB与AIST（日本产业技术综合研究所）间角度比对测量 |
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2004 |
海德汉，PTB与MITUTOYO间长度比对测量 |
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2004 |
角度编码器用于加那利大型望远镜（Gran Telescopio CANARIAS） |
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2005 |
海德汉与PTB间角度比对测量 |
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2007 |
为25个欧洲ALMA天线提供角度编码器（Atacama大型阵列望远镜） |
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2013 |
角度编码器用于丹尼尔·井上太阳望远镜（DKIST，原技术太阳望远镜，ATST） |
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1936 |
用照相制版生产玻璃光栅尺，精度± 0.015 mm |
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1943 |
用制版技术生产圆光栅，精度± 3秒 |
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1952 |
重量秤成为主要收入来源 |
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1967 |
自持光栅，显微结构 |
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1985 |
增量式直线光栅尺的距离编码参考点 |
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1986 |
相位光栅 |
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1995 |
二维编码器格栅 |
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2002 |
干涉扫描直线光栅尺的平面相位光栅 |
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2005 |
抗污染的幅值光栅，激光烧蚀法生产 |
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2009 |
大型二维格栅（400 mm x 400 mm），用于半导体工业的测量系统 |
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1952 |
机床的光学直线光栅尺 |
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1961 |
LID 1增量式直线光栅尺，栅距8 µm / 测量步距2 µm |
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1963 |
LIC式直线光栅尺，18条刻轨，纯二进制编码 / 测量步距5 µm |
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1965 |
激光干涉仪，用于机床校准 |
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1987 |
LIP 101敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距0.02 µm |
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1989 |
LIP 301敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距1 nm |
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1992 |
PP 109R二维干涉扫描直线光栅尺 |
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2008 |
LIP 200干涉扫描直线光栅尺，信号周期0.512 µm，高运动速度3 m/s |
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2010 |
LIC 4000式敞开直线光栅尺，2条刻轨，伪随机码，EnDat 2.2，大测量长度27 m和分辨率1 nm |
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2012 |
LIC 2100式单条刻轨直线光栅尺 |
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2015 |
LIP 6000紧凑型干涉扫描直线光栅尺 |
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1952 |
机床的光学直线光栅尺 |
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1966 |
LIDA 55.6全封闭增量式钢带直线光栅尺 |
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1975 |
LS 500玻璃光栅的增量式直线光栅尺，大测量长度3 m，测量步距10 µm |
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1977 |
LIDA 300增量式直线光栅尺，大测量长度30 m |
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1994 |
LC 181全封闭式直线光栅尺，7条刻轨，EnDat接口，测量长度3 m，测量步距0.1 µm |
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1996 |
LC 481式直线光栅尺，2条刻轨， PRC，EnDat，大测量长度2 m |
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2011 |
LC 200式直线光栅尺，大测量长度28 m，PRC，测量步距10 nm |
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2014 |
LC xx5式直线光栅尺，大测量长度4 m，测量步距1 nm |
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2015 |
LP 100增量式直线光栅尺，大测量长度3 m，测量步距32.5 pm |
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1952 |
光学角度编码器 |
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1957/1961 |
ROD 1光电扫描角度编码器，每圈40,000个信号周期，10,000线 |
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1962 |
ROD 1每圈72,000个信号周期 |
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1964 |
ROC 15式角度编码器 / 分辨率17 bit |
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1975 |
ROD 800增量式角度编码器，精度± 1秒 |
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1986 |
RON 905增量式角度编码器，精度± 0.2秒 |
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1997 |
RCN 723式角度编码器，空心轴带定子联轴器版，单圈23 bit，EnDat接口，精度± 2秒 |
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2000 |
ERP 880干涉扫描角度编码器，每圈180,000个信号周期，精度± 0.2秒 |
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2004 |
RCN 727式角度编码器，空心轴，大直径100 mm |
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2009 |
ROP 8080晶片测针的干涉扫描角度编码器，有承载功能的角度编码器，每圈360,000个信号周期 |
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2011 |
ERP 1080微型干涉扫描角度编码器，单芯片的编码器结构 |
