ST-20型方块电阻测试仪

ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
特点:
1.采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。
2.低功耗。
3.采用单个电池供电，带电池欠压指示。
4.仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm。
5.采用弹簧电缆连接，有效抗拉。
6.特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜。
7.探头带抗静电模块。

   

技术指标
1.测量范围：
           基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
           扩展量程: 方块电阻100-1999(Ω/口)
2.测量不确定度≤5%
3.探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 MΩ