|
型号
|
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
|
MINITEST 存储的数据量
|
|
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
|
1
|
1
|
10
|
99
|
|
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值)
|
-
|
1
|
10
|
99
|
|
可用各自的日期和时间标识特性的组数
|
-
|
1
|
500
|
500
|
|
数据量
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1
|
10000
|
10000
|
10000
|
|
MINITEST统计计算功能
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|
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
|
-
|
-
|
-
|
√
|
|
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
显示并打印测量值、打印的日期和时间
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
其他功能
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|
透过涂层进行校准(CTC)
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
在粗糙表面上作平均零校准
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√
|
√
|
√
|
√
|
|
利用计算机进行基础校准
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
补偿一个常数(Offset)
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
外设的读值传输存储功能
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
保护并锁定校准设置
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
更换电池是存储数值
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
设置极限值
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
公英制转换
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别大小值
|
-
|
-
|
√
|
√>
|
|
连续测量模式中测量稳定后显示读数
|
-
|
-
|
√
|
√>
|
|
浮点和定点方式数据传送
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
组内单值延迟显示
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
连续测量模式中显示小值
|
√
|
√
|
√
|
√
|
可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
|
探头
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量程
|
低端
分辨率
|
误差
|
小曲率
半径(凸/凹)
|
小测量
区域直径
|
小基
体厚度
|
探头尺寸
|
|
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
无限制
|
φ17x80mm
|
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ21x89mm
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
注：
|
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
|
探头图示
|
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
|
|
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度
|
|
|
|
F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|
|
|
|
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm
|
|
|
|
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
|
|
|
|
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
|
|
F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
|
|
|
|
F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
|
|
|
|
F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
|
|
|
|
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
|
|
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
|
|
|
![]()
|
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
|
|
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
|
|
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|
|
|
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|
|
|
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N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|
|
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板
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|
