天瑞镀层测厚仪800A环境要求

发布时间:2017-01-03

天瑞镀层测厚仪800A环境要求

天瑞镀层测厚仪安装之前,实验室应具备以下条件:

1、 环境温度:16-30摄氏度。按室内15 m2房间计算可选用1.5匹冷暖壁挂式空调机。
2、 相对湿度:小于75%(请避免空调等出口出来的风直接吹到本装置)。
3、 地线:地线,接地电阻小于1欧姆;
参考方案:面积不小于200mm× 200mm×5mm(长、宽、高)的紫铜板与40mm(宽)× 0.5mm(厚)铜带相连,紫铜带引到室内与天瑞镀层测厚仪接地处连接,紫铜板埋在地下1.5米深处,倒入1kg食盐,加水浸泡。
4、 房间要求:
参考仪器尺寸 长1380mm、宽1435mm(含台板),1020mm(不含台板)、高1130mm
室内面积应大于15m2,要求密封性好,无腐蚀性气体,无机械振动,无电磁场干扰。
5、 电源要求:单相220V±10% 30A ,如电网波动 ≥ 10%,则需配交流稳压器(5kW)。
配电板220V,30A)一个,装置距离配电盘10m以内,配接地线。
接线插座排(220V,16A)两个。
6、 氩气:2至3瓶纯度为99.999%以上的氩气(高含水和含氧量为2ppm)


天瑞仪器(股票代码300165) 国内家ROHS仪器上市企业 地址深圳宝安松岗芙蓉东路天瑞大厦

业务咨询: 杨经理 网址www.tianrui-instrument.com(点击进入)

荧光光谱仪又称荧光分光光度计,是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测,可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性,以及荧光的淬灭方面的信息。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
X荧光光谱仪的工作原理:X荧光光谱仪是通过激发源激发X射线打击样品的分子结构,使之发生原子变迁,通过探测器收集原子变迁所产生的能量波,以分析判断原子(元素)的类型。
X荧光光谱仪对工作环境的要求:
1、远离强磁、强振、高压环境,否则会干扰能量谱形或造成设备不能正常工作。
2、应保持室温15~30℃为宜,气温过高或过低都会影响设备的正常运作;空气相对湿度 应<70%,湿度过高会造成内部高压单元产生拉弧和放电。  
3、配置一千瓦的稳压电源,杜绝突然断电现象和市电波动对测试结果的影响。  
4、保持工作间和设备的整洁,防止灰尘的腐蚀。

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