博曼Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置。凭借的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是您研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。Bowman BA-100 Optics 搭载50W钼靶射线管，以及多毛细管聚焦光学结构，可测小于100um直径的测量斑点。
美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。
智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
性能与可操作性的优化
紧凑式设计，改善效率和精度
高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度
更短的预热时间，更长寿命的光管
多种规格一次滤波器和准直器
可变焦距适应复杂样品的测量需求
模块化设计，方便维修、维护
简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析
成份分析多可达25种元素
同时可多分析5层
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计
直观的用户界面
大的分析灵活性，减少用户出错机会
基于Net
直观的图标引导用户界面
强大的定性、无标样分析功能
功能强大的标准片库
用于快速分析的可定制快捷键
灵活的数据显示与导出
强大的报告编辑生成器
美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、薄镀层，以及痕量元素分析需求。
的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
射线出射点预置于射线管Be窗正中央
长寿命的射线管灯丝
独有的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证，接近的测量精度
