X射线衍射仪

发布时间:2018-01-22

Y-2000X射线衍射仪简介:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />

 

Y-2000型X射线衍射仪为我公司新研制的新产品,该产品在Y-500 X射线衍射仪的基础上,对硬件及软件系统作了更大的改进,使我国国产X射线衍射仪无论在技术性能及自动化程度以及测量精度、整机稳定度均达到一个崭新的高度,完全可以与国外同类仪器所媲美,具体改进如以下几部分:

一、      软件系统

1. 系统控制软件已由原来的DOS操作系统升级为Windows操作系统,改变了以往的界面不友好、速度慢等诸多缺点。在进行X射线衍射仪操作的同时,可同时进行数据处理等其它一些工作。

2. 物相定性分析软件由原来的DOS操作系统升级为Windows界面操作系统,采用向导式设计,具有谱图显示功能,同时可以查询卡片,进行半定量计算等,并且多处采用人机对话方式,用户既可以让程序自动识别又可以根据经验,人工参与来提高识别准确度。

二、硬件系统

1. 高压发生器部分:Y-2000型X射线衍射仪采用单片机控制技术,模块化设计,使得高压发生器部分控制更加、稳定,自动化程度非常高,高压的开、关及升降,光闸、冷却系统的开关均由计算机终端控制。X射线衍射仪的整个扫描过程,只需点击一个功能键则所有一系列动作均自动完成。

2. 致冷冷却循环水系统:Y-2000型X射线衍射仪采用带致冷功能的循环水装置。该装置自动控制水温,自带致冷系统,无需外接循环水冷装置,使水温控制在15℃~30℃之间,并且采用不锈钢水泵,使噪音降到极低并且消除了水锈的产生,避免X射线管的堵塞。

3.    整机更加美观大方,操作更加简捷、方便。

 

 

 

 

 


-2000型X射线衍射仪主要性能与技术指标

 

1、高压发生器部分:

    管电压:  1060kV由计算机终端自动控制(1kV/step);

    管电流:    580mA由计算机终端自动控制(1mA/step);

    管电压、管电流稳定度≤0.3‰;

    额定输出功率:3kW

    有过压、过流、过功率、无压、无水,X光管温保护;

光闸开关由计算机终端自动控制;

冷却装置带有制冷功能,并自动控制温度,显示X光管水温。

2、测角仪控制部分:

    用步进电机控制测角仪的转动方向(正或反,正向扫描)、驱动方式(单动或联动)、扫描方式(连续,阶梯)、扫描速度,并自动进行角度校正、消除空程和丢步检测。

    小步进角: 0.005°

    连续扫描速度: 0.0051.27°/s 0.376.2°/min

    阶梯扫描步宽角度: 0.005160°

    2θ角测量精度:≤0.01°;

    测角仪2θ角度单向重复性≤0.001°;

3、记录控制单元及探测器部分:

    封闭闪烁计数器

    自动控制微分、积分方式的转换;

    自动作脉冲高度分布曲线

    基线和道宽自动控制: 0%99%

    连续可调的探测器高压: 02000V

    探测器高压稳定度: 优于±0.03%

    与X光管靶材匹配的选择开关: CrFeCoCuMo

    能谱分辩率(u、Kα谱线): 闪烁计数器≤60%

4、整机综合稳定度

    系统综合稳定度  ≤1%;

5、射线防护达到标准要求

    光闸窗口与防护罩连动,具有光电保护功能,铅门打开光闸窗口自动关闭。防护罩外射线计量不大于2.5μSv/h。

 

6、联机控制软件:

    一组在通用微机上运行的软件,可自动控制衍射仪系统作连续扫描或阶梯扫描,同时进行数据采集。还具有对衍射数据的常规数据处理功能和磁盘文件管理功能。数据处理包括寻峰(自动加手动)、单峰积分强度计算、平滑、峰形放大、多重绘图等。磁盘文件管理包括查找文件、删除文件、拷贝文件、文件更名等。

7、应用软件:

7.1  操作功能:

    衍射峰测量,重叠扫描, 净强度测量, 定时计数,定数计时,测角仪转动, 测角仪步进和步退,测角仪调整, 2θ校准,管电流、管电压光闸控制。

7.2  数据分析处理功能:

7.2.1  平滑;扣除背底;Kα2剥离;寻峰(D值,标2θ值,标d2θ强度、半高宽,显示全部参数等多种衍射峰表示方法);改变采样步长;去除杂峰、干扰峰;d值、峰位修正;求积分面积、积分宽度、半高宽;谱图对比、图谱加减、谱图合并;在谱图任意位置插入文字;两种游标方式(小游标、大游标);多种缩放功能;多种坐标方式(线性坐标、对数坐标、平方坐标)

7.3  定性分析:

      可以进行自动检索和手工检索,自动检索结果包括:卡片号、分子式、匹配指数、可靠性因子、K值。可以进行半定量分析及K值量分析。

7.4  定量分析:

    标准添加法、内标法、N组分吸收系数相同、两组分吸收系数不同。

7.5   分峰法结晶度计算:

   分峰过程可以通过鼠标直观地改变子峰的各个参数,可以直观地看到拟合谱与实测谱的差别。

7.6    晶胞参数精修。

7.7    指标化。

 

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