在购买TESA测高仪的时候，我们首先需要对测量的一些基础知识有一个系统而详细的了解，例如测量方法：
测量方法分类：
、按是否直接测量被测参数，可分为直接测量和间接测量。
直接测量：直接测量被测参数来获得被测尺寸。例如用卡尺、比较仪测量。间接测量：测量与被测尺寸有关的几何参数，经过计算获得被测尺寸。
显然，直接测量比较直观，间接测量比较繁琐。一般当被测尺寸或用直接测量达不到精度要求时，就不得不采用间接测量。
第二、按一次测量参数的，分为单项测量和综合测量。
单项测量;对被测零件的每个参数分别单独测量。
综合测量：测量反映零件有关参数的综合指标。如用工具显微镜测量螺纹时，可分别测量出螺纹实际中径、牙型半角误差和螺距累积误差等。
综合测量一般效率比较高，对保证零件的互换性更为可靠，常用于完工零件的检验。单项测量能分别确定每一参数的误差，一般用于工艺分析、工序检验及被参数的测量。
关于更多测量知识，您还可以通过咨询我们TESA测高仪工作人员进行系统了解。
