平面型屏蔽材料屏蔽效能手动测试系统配置方案

本方案建立一套30MHz~1.5GHz频率范围（可扩展至100kHz~3GHz）内的材料屏蔽效能评估测试系统。测试装置的主要参数见下表

主要参数	说明
频率范围	30MHz～1.5GHz，（可在9kHz～3GHz内使用，VSWRmax≤2）
电压驻波比（VSWR）	＜1.3（典型驻波比见下图1）
插入损耗（IL）	＜0.5dB （典型插入损耗见下图2）
外形尺寸	400mm×133mm（L×D）
重量	16kg

DR-S01平面材料屏蔽效能测试装置完全按照ASTM 4935标准规定设计，高精密加工的同轴法兰部件在测试频率范围内具有非常小的驻波比和非常低的插入损耗，有效的保证了测试结果的真实性与准确性。

        适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量。DR-S01适用的标准有GJB-6190-2008、GB/T 25471-2010和ASTM 4935-2010（更替ASTM 4935-99）。依据标准要求在30MHz~1.5GHz的频率范围可完成标准测试功能，此外，在9kHz~30MHz和1.5GHz~3GHz范围内同样具有良好的驻波比性能，可用于这两个频段的参考测试，大大拓宽了使用频率范围。为了提高测试系统微波信号传输阻抗匹配度，按照现行标准规定应在信号源与同轴测试装置的输入端口以及频谱仪与同轴测试装置的输出端口安装同轴衰减器。