DSY-II型单晶少子寿命测试仪 ()厂家 ，
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DSY-II型单晶少子寿命测试仪 ()
【产品名称】
DSY-II型单晶少子寿命测试仪
【产品规格】
产品介绍： 用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。
【产品简介】
产品介绍： 用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成； 产品
产品介绍：
用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。
本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成；
产品特点：
*.测试单晶电阻率范围：>10Ω.cm
*可测单晶少子寿命范围：20μS-5000μS；
[上一个产品]: SHD-10C纸张平滑度测定仪
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