MODEL CT-2型 电解式镀层测厚仪
产品介绍： 用 途 1.各种镀层（多层、合金、多层镍）的精密测量。 2．除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。 3．可测量0.01μm-300μm的镀层。 4．可高精度测量其它方式不易测量的三层以上
产品介绍：
用 途
1.各种镀层（多层、合金、多层镍）的精密测量。
2．除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。
3．可测量0.01μm-300μm的镀层。
4．可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层。
5．可对测量数据进行统计处理，以及和主机进行共同管理。
6．可制作非破坏式膜厚仪的标准板。
7．可检查非彼坏式膜厚仪的测量精度。
产品特点：
1．由微处理器来进行计算、储存、思考。
2．本膜厚仪采用全对话式操作，因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量，非常简单。DGPE ,2．本膜厚仪采用全对话式操作，因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量，非常简单。
3．由於可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。
＊每个测量条件可储存9999个数据。
4．多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理例如：测量条件、平均值、大值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可由列印机印出，制作测量报告很容易。
5．每种镀层所需的电解液，敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定。
6．标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。
7．测量数据可由通讯网路来传输，所以能和主机共同进行数据管理。
8．由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。
9．可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。
10．有表面活性化的功能，所以表面处理很容易。
11．我们的测量台（）是利用条形弹簧方式，因此操作非常容易。
技术参数：
型号WWST ,JNYTBBA TG 2．本膜厚仪采用全对话式操作，因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量，非常简单。
3．由於可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。
＊每个测量条件可储存9999个数据。
4．多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理例如：测量条件、平均值、大值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可由列印机印出，制作测量报告很容易。
5．每种镀层所需的电解液，敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定。
6．标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。
7．测量数据可由通讯网路来传输，所以能和主机共同进行数据管理。
8．由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。
9．可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。
10．有表面活性化的功能，所以表面处理很容易。
11．我们的测量台（）是利用条形弹簧方式，因此操作非常容易。
技术参数：
型号
3．由於可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。
＊每个测量条件可储存9999个数据。
4．多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理例如：测量条件、平均值、大值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可由列印机印出，制作测量报告很容易。
5．每种镀层所需的电解液，敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定。
6．标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。
7．测量数据可由通讯网路来传输，所以能和主机共同进行数据管理。
8．由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。
9．可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。
10．有表面活性化的功能，所以表面处理很容易。
11．我们的测量台（）是利用条形弹簧方式，因此操作非常容易。
技术参数：
型号
测量范围
量大分解能
本机精度
电解速度
测量单位
测量面积
电源
主机尽寸
重量
CT-2
0.006～300μm
0.001μm
+/-1％
250，125，50，25，12.5，5，2.5， 1.25μm/Sec
μm，nm，mil，Ml
ф1.7，ф2.4, ф3.4mm
AC100V±10％，50/60Hz，200W （OPTION： AC115V，230V）
300(W)，250(D)，150(H)mm
3Kg
[上一个产品]: HRSD-45型电动表面洛氏硬度计
[下一个产品]: HRS-150B型加高洛氏硬度计
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