MCH电脑膜层测厚仪
产品介绍: 显示方式:7位液晶数字显示 测 量:单探头全量程测量 存 储:可存入测量数据800个 读: 读出以存入测量数据 统 计:显示以存数据的小值,均值,大值 电 源:5"干电池3节
产品介绍:
显示方式:7位液晶数字显示
测 量:单探头全量程测量
存 储:可存入测量数据800个
读: 读出以存入测量数据
统 计:显示以存数据的小值,均值,大值
电 源:5"干电池3节
功 耗:大功耗100
外形尺寸:134x72x31xmm
重 量:150g
产品特点:
特 点
MCH系列电脑膜层
测厚仪是高新技术的结晶。它采用微机技术,精度高,数字显示,示值稳定,功耗低,操作方便,无校正按钮,体积小重量轻,具有存储,读出,统计,低电压指示,上下限报警功能。其性能达到当代国际同类产品的国际水平。
本仪器采用磁性测厚法,方便无损的测量铁磁材料上非磁性图层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等图层的厚度,该仪器广泛的应用于机械,汽车,造船,石油,化工,电镀,喷涂,搪瓷等行业。是铁磁材料保护层质量检测的工具。
MCH系列电脑膜层测厚仪指标:
技术参数:
DGPE ,
型 号
MCH-2001(J)
MCH-2002(J)高精度
MCH-2003(J)宽量程
MCH-2004(J)
WWST ,JNYTBBA TG
型 号
MCH-2001(J)
MCH-2002(J)高精度
MCH-2003(J)宽量程
MCH-2004(J)
型 号
MCH-2001(J)
MCH-2002(J)高精度
MCH-2003(J)宽量程
MCH-2004(J)
测量范围
0-5000
0-450
50-10000
0-300
测量误差
< 3% + 1um
< 3% + 0.5um
< 3% + 10um
< 3% + 1um
小示值
1um
0.1um
10um
1um
使用环境
温度:-10`C — +40'C
温度:-10`C — +40'C
相对湿度:不大于90%
相对湿度:不大于90%
[上一个产品]: CP系列准微量天平、分析天平
[下一个产品]: QuaNix handy(一体化Fe/Nfe两用探头(20-500μm)
QuaNix1200 金属涂镀层测厚仪
BN菲尼克斯涂层镀层测厚仪
BF菲尼克斯涂层镀层测厚仪
MC2000D型涂镀层测厚仪
MC2000C型涂(镀)层测厚仪
Fe/NFe铁基/非铁基两用探头
Fe铁基探头
Dangle(无线模块QuaNix8500增强型主机)
NFe非铁基探头
Fe铁基探头
CMI膜厚测量仪
LZ-200J膜厚计(涂层测厚仪)
QuaNix8500系列金属涂镀层测厚仪
HGG-18涂层测厚仪
LZ-300J涂层测厚仪(膜厚计)
HGG-18A涂层测厚仪
新产品
产品
热门产品
4500涂镀层厚度测量
兴万尼克斯涂镀层测厚仪
CMI150涂层测厚仪
QGG-A型磁性测厚仪
CUG-200型数显式磁性测厚仪(台式
TT230型数字式涂层测厚仪
TT220型数字式涂层测厚仪
MINITEST 4100/3100/2100/1100 微
GALVANOTEST 2000 库仑镀层测厚仪
QuintSonic 超声涂层测厚仪