镀层测厚仪排名、膜厚测试仪排名榜
一：镀层测厚仪仪器排名
1：美国博曼（BOWMAN）测厚仪，仪器产地：整机美国原装进口；
4：韩国微先锋（Micro Pioneer）X射线测厚仪，仪器产地：韩国；
5：韩国ISPX荧光测厚仪，仪器产地：部分韩国零配件，在东莞组装；
6：江苏天瑞X射线测厚仪，仪器产地：江苏；
7：深圳禾苗分析仪器有限公司，仪器产地：深圳；
二：市场上膜厚仪高性能、高精度仪器型号排名
1：美国博曼（BOWMAN）型号：BA-100-W，采用毛细管结构7.5um；高分辨率SDD探测器 ；
2：美国博曼（BOWMAN）型号：BA-100-M，采用毛细管结构15um；高分辨率SDD探测器 ；
3：日立（HITACHI）分析仪器型号： FT150，采用毛细管结构小于20um; 高分辨率SDD探测器 ；
4：菲希尔（FISCHER）型号： XDV-u；采用毛细管结构10-60um；高分辨率SDD探测器 ；
5：美国博曼（BOWMAN） 型号：BA-100-O；采用毛细管结构80um；高分辨率SDD探测器 ；
结：目前市场上只有以上三家：（博曼（BOWMAN）、日立（HITACHI）、菲希尔FISCHER）为应对全球客户测量面积越来越小，测量精度要求越高而设计的几款仪器，是目前市场上的膜厚测试仪。都采用了多导毛细管技术，以及配置了大窗口SDD硅漂移接收器，实现极小的测量斑点，高速，，稳定的测量。
三：市场上普通准直器仪器型号排名
1：美国博曼（BOWMAN）型号：BA-100-P,采用多准直器结构；硅-PIN半导体探测器（可选SDD探测器）；
2：菲希尔（FISCHER）型号：XDLM 237与XDLM-PCB220，采用多准直器结构；PC封气比例接收器（可选SDD探测器）；
3：日立（HITACHI）分析仪器，原牛津仪器型号为：X-Strata920-AM全自动台（CMI900的升级），采用多准直器结构；PC封气比例接收器（可选SDD探测器）；
4：韩国先锋Micro Pioneer 系列型号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-2020PCB，采用多准直器结构；PC封气比例接收器；
5：韩国ISPX荧光测厚仪型号为：ISP iEDX-150WT与iEDX-150T；采用多准直器结构，硅-PIN半导体探测器（可选SDD探测器）；
6：江苏天瑞X荧光镀层测厚仪、RoHS检测仪器Thick800A 与Thick600，采用单准直器结构，PC封气比例接收器；只是一个兼容可以镀层测厚仪器，不；
7：深圳禾苗分析仪器型号为：E8-SPR：镀层测厚仪器、RoHS检测仪器，只是一个兼容可以镀层测厚仪器，不；
结：以上是目前市场上普通准直器的仪器排名，因配置了不同的探测器，所以测量精度结果、仪器寿命各不同。
以下是探测器资料，以下是性能探测器排名，PC探测器性能较低，但价格便宜，SDD性能好，价格贵。
1：封气比例接收器（PC），寿命一般为3-5年分辨率约900eV
（比例接收器，能量分辨率很低，因为是气体探测器，容易受环境温湿度影响,时常出现干扰，仪器必须经常用标准片校准，目前市场上已渐渐淘汰比例接收器)；
2：硅-PIN半导体探测器（PIN）、寿命一般为10年以上，分辨率优于190eV
（搭载高分辨率的固态探测器，能量分辨率更高，测量相邻元素更，仪器无需二次滤波器，峰位长时间保持稳定，无需频繁地用标准片校准仪器） 使用硅PIN探测器元素分辨率更好，有效排除元素之间的干扰。
图例：两种探测器对比
红色为封气比例接收器所获得的谱峰，绿色为硅PIN半导体探测器所获得的谱峰。
封气比例接收器所获取的谱峰重叠现象严重。
3：SDD硅漂移接收器，寿命一般为10年以上，分辨率优于140eV
