美国博曼膜厚测试仪

美国博曼博曼BA-100高性能XRF镀层测厚仪（鼎极天供应） 美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式毛细管X射线荧光（XRF）镀层测厚仪，采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。 Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、薄镀层，以及痕量元素分析需求。 的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA100 Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 稳定的X射线管 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点 射线出射点预置于射线管Be窗正中央 长寿命的射线管灯丝 独有的预热和ISO温度适应程序 多孔毛细管聚焦光学结构 显著提高X射线信号强度 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 小于100um直径的测量斑点 经过验证，接近的测量精度 工作原理： X射线荧光（XRF）仪器的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量的分析 应用范围： 线路板行业，汽车行业，紧固件，电子元器件，端子连接器，半导体，能源行业，陶瓷卫浴、贵金属等。 测量元素范围： 13号铝元素-92号铀元素，每层多可含10种元素，可同时分析合金材料内多25种元素含量 借助更好的半导体探测器，优化的光学设计，可以实现数个纳米的镀层厚度检测，比如Au/Pd/NiP/CuPCB应用，当Au厚度仅有5纳米，Pd厚度只有20纳米时，仍然可以获得相对稳定的数据；通过调整测量焦距以及配合不同规格的一次滤波器，可实现较厚的厚度测量，比如Cr/Ni/Cr/ABS应用，厚度可以达到过60um。