日立精工EA8000 X射线异物分析

发布时间:2019-04-17
日立精工EA8000 X射线异物分析 概要:可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池电极中可能掺杂的20 μm大小的微小金属异物并进行元素分析。

技术参数:
日立精工EA8000 X射线异物分析
测量元素 原子序号Mg(12)~U(92)
样品形状 粉体、固体
X射线源 水冷室X射线管球(透射X射线)
小型空冷室X射线管球(荧光X射线)
管电压:15、17.5、20 kV(透射X射线)、45 kV(荧光X射线)
管电流:1~35 mA(透射X射线)、900 μA(荧光X射线)
X射线照射方向 下方照射型(透射X射线)
上方照射型(荧光X射线)
检测器 面型图象传感器(透射X射线)
Vortex(荧光X射线)
分析区域 30 mmΦ(透射X射线)
样品观察 高分辨率CCD摄像头
滤波器 4种模式自动切换(荧光X射线)
样品尺寸 250(W)×200(D)×0~50(H) mm
仪器尺寸 1380(W)×1042(D)×1785(H) mm
重量 660 kg
电源/额定功率 AC200~240 V(50~60Hz)/1500 VA
日立精工EA8000 X射线异物分析

特点:

1. 可在几分钟内对250×200 mm的样品检测出20 μm的金属异物
例如要检测250×200 mm(约B5尺寸)的电池电极板中20 μm的金属异物,以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。株式会社日立高新技术科学通过X射线透视方法的开发,缩短了时间。检测速度达到了以往的100倍以上,可在3~10分钟内完成
2. 通过图像处理自动检测出异物
针对快速拍摄的250×200 mm的X射线投射图的整面进行快速图像处理,自动检测出异物点。
3. 对于检测出的异物点进行自动元素分析
只针对自动检测出的 异物点进行X射线荧光扫描,自动分析元素。
4. 电极板中的微小金属元素也可进行元素识别
对于样品中检测出来的金属异物,自动通过X射线荧光法进行元素识别。例如,以往在检测电极板中可能存在的20 μm左右的微小金属异物,只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时,由异物产生的荧光X射线会被基材所吸收,信号强度非常微弱。EA8000通过独发的高能量X射线光学系统,可对电极、有机薄膜内部所含的20 μm大小的微小金属异物进行元素分析。
5. 一体化操作,提高工作效率
与以往的技术相比,金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高,并且把显微镜等都组合在一台仪器内,各个系统联动可全自动输出测量结果。因此,操作人员只需放置好样品,即可获得测量结果,大大提升了作业效率。
我们有多年的销售经验,拥有800多家客户,销售近1000台XRF仪器。我们的工程师定期接受原厂的培训,并获得,具独立维修保养仪器的能力,这是我们信心所在,也是客户寄以信任的基础。
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公司定位:
昆山嘉富亿电子科技有限公司一直把全方位协助企业节能减排,提升客户企业形象,共同保护地球资源视为自己的神圣使命。脚踏实地、忠诚勤劳的为每一位客户服务,坚持不断与时俱进,增强自己的核心竞争力,紧跟经济全球化的步伐,担当节能环保让地球资源永续下去的责任,不断创新,越自我,争创国际企业。我们为客户提供产品和满意的服务,以的品质提升员工价值和企业价值,从而赢得社会的信赖,树立良好的企业形象。 
日立精工EA8000 X射线异物分析
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