半导体特性图示仪测试
集电极电压: 0.05V/div~50V/div 误差 ±3%
二极管测试电压: 0~3000V (配选购件) 误差 ±5%
基极电压: 0.05V~1V/ div 误差 ±3%
集电极电流: 10μA~1A/div 误差 ±3%
集电极漏电流: 0.2μA~5μA/div 误差 ±3%~10%
阶梯电压: 0.05V~1V/级 误差 ±3%
阶梯电流: 0.2uA~50mA/级 误差 ±5%~7% △Ub : ±8V
功耗限制电阻: 0~500KΩ 误差 ±10%
半导体特性图示仪主要技术指标
线性集成电路测试
失调电压: 0~60mV 误差±5%读+2字
失调电流: 0~10μA 误差±5%读+2字
输入偏置电流: 0~10μA 误差±5%读+2字
差模开环增益: 60~99.9dB 误差±5%读+2字 100~110dB 误差±7%读+2字
共模抑制比: 60~99.9dB 误差±5%读+2字 100~110dB 误差±7%读+2字
大输出幅度: ±4V~±24V 误差±7%读+2字
静态消耗电流: 0~20mA 误差±5%读+2字