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量程 1 |
测量范围: |
0-1500μm (0-60mils) |
度*: |
±1-3% 或 ±2.5µm (±0.1mil) |
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|
分辨率: |
0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils) |
||||
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易高456E型 |
易高456基本型（B） |
易高456标准型（S） |
易高456高级型（T） |
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易高456铁基整体式仪器 |
A456CFEI1 |
A456CFBI1 |
A456CFSI1 |
A456CFTI1 |
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易高456非铁基整体式仪器 |
- |
A456CNBI1 |
参见带有N2PINIP探头 |
参见带有N2PINIP探头 |
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易高456两用整体式仪器 |
A456CFNFEI1 |
A456CFNFBI1 |
A456CFNFSI1 |
A456CFNFTI1 |
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量程 2 |
测量范围: |
0-5mm (0-200mils) |
度*: |
±1-3% 或 ±20µm (±1.0mil) |
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|
分辨率: |
1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils) |
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要想在薄涂层上具有更高的分辨率和准确性，量程2仪器可转换为量程1模式 |
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易高456E型 |
易高456基本型（B） |
易高456标准型（S） |
易高456高级型（T） |
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易高456铁基整体式仪器 |
- |
A456CFBI2 |
参见带有F2PINIP探头 |
参见带有F2PINIP探头 |
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量程 3 |
测量范围: |
0-13mm (0-500mils) |
度*: |
±1-3% 或 ±50µm (±2.0mils) |
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分辨率: |
1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils) |
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易高456E型 |
易高456基本型（B） |
易高456标准型（S） |
易高456高级型（T） |
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易高456铁基整体式仪器 |
- |
A456CFBI3 |
参见带有F3PINIP探头 |
参见带有F3PINIP探头 |
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