a) 基体金属特性
对于磁性方法涂层测厚仪，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对涡流方法涂层测厚仪，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b) 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否过临界厚度，如果没有，可采用3.3)中的某种方法进行校准。
c) 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d) 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e) 读数次数
通常由于涂层测厚仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f) 表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
