天瑞分析测试仪器研究下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。
“分析仪器研发中心”主要负责公司新产品的研发，由天瑞仪器公司的高级工程师李胜辉负责。李胜辉高工毕业于西安电子科技大学，从事分析仪器研发工作十五年，是XRF、ICP、AAS等仪器核心部件研发的高级人才。
“理化分析测试中心” 主要负责客户样品的测量与仪器的应用， “分析测试技术应用开发中心” 主要负责每一款仪器的分析应用方法研究，由姚栋梁博士负责，姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学*，从事分析仪器开发十六年，并且已有丰硕成果。
天瑞分析测试仪器研究日前人员构成：士1名（战略指导），博士11名，高级工程师13名，硕士17名，大学本科研发人员50名。
产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特点
高效薄窗X光管，指标达到国际*水平
*的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置
高效薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
应用领域
钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
